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標準簡介：本標準規(guī)定了半導體x射線探測器系統和半導體x射線能譜儀主要特性的測量方法。本標準適用于半導體x射線探測器系統和半導體x射線能譜儀主要性能的測量。
標準號：GB/T 11685-2003
標準名稱：半導體X射線探測器系統和半導體X射線能譜儀的測量方法
英文名稱：Measurement procedures for semiconductor X-ray detector system and semiconductor X-ray energy spectrometers
標準類型：國家標準
標準性質：推薦性
標準狀態(tài)：現行
發(fā)布日期：2003-07-07
實施日期：2004-01-01
中國標準分類號（CCS）：能源、核技術>>核儀器與核探測器>>F80核儀器與核探測器綜合
國際標準分類號（ICS）：能源和熱傳導工程>>核能工程>>27.120.01核能綜合
替代以下標準：GB/T 8992-1988 GB/T 11685-1989
起草單位：核工業(yè)標準化研究所
歸口單位：核工業(yè)標準化研究所
發(fā)布單位：國防科學技術工業(yè)委.
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