檢測報告圖片模板:
檢測執(zhí)行標準信息一覽:
標準簡介:本標準規(guī)定了藍寶石襯底上生長的單晶硅外延片的技術要求、測試方法、檢驗規(guī)則。本標準適用于半導體器件用藍寶石襯底上生長的單晶硅外延片。
標準號:GB/T 14015-1992
標準名稱:硅--藍寶石外延片
英文名稱:Silicon on sapphire epitaxial wafers
標準類型:國家標準
標準性質:推薦性
標準狀態(tài):現(xiàn)行
發(fā)布日期:1992-01-02
實施日期:1993-08-01
中國標準分類號(CCS):電子元器件與信息技術>>電子設備專用材料、零件、結構件>>L90電子技術專用材料
國際標準分類號(ICS):29.040.30
起草單位:天津半導體技術研究所
歸口單位:全國半導體材料和設備標準化技術委員會
發(fā)布單位:國家技術監(jiān)督局
標準文檔查詢及下載
免責聲明:(更多標準請先聯(lián)系客服查詢!)
1.本站標準庫為非營利性質,僅供各行人士相互交流、學習使用,使用標準請以正式出版的版本為準。
2.全部標準資料均來源于網(wǎng)絡,不保證文件的準確性和完整性,如因使用文件造成損失,本站不承擔任何責任。
3.全部標準資料均來源于網(wǎng)絡,本站不承擔任何技術及版權問題,如有相關內容侵權,請聯(lián)系我們刪除。