檢測報告圖片模板：
檢測執(zhí)行標準信息一覽：
標準簡介：本標準規(guī)定了半導體分立器件主要的文字符號。本標準適用于編寫半導體分立器件有關標準和有關技術資料。
標準號：GB/T 11499-2001
標準名稱：半導體分立器件文字符號
英文名稱：Letter symbols for discrete semiconductor devices
標準類型：國家標準
標準性質：推薦性
標準狀態(tài)：現(xiàn)行
發(fā)布日期：1989-03-03
實施日期：2002-06-01
中國標準分類號（CCS）：電子元器件與信息技術>>半導體分立器件>>L40半導體分立器件綜合
國際標準分類號（ICS）：電子學>>半導體器件>>31.080.01半導體器件綜合
替代以下標準：GB/T 11499-1989(調整為SJ/T 11089-1996)
起草單位：河北半導體研究所
歸口單位：全國半導體器件標準化技術委員會
發(fā)布單位：國家質量監(jiān)督檢驗檢疫.
標準文檔查詢及下載
免責聲明：(更多標準請先聯(lián)系客服查詢！)
1.本站標準庫為非營利性質，僅供各行人士相互交流、學習使用，使用標準請以正式出版的版本為準。
2.全部標準資料均來源于網(wǎng)絡，不保證文件的準確性和完整性，如因使用文件造成損失，本站不承擔任何責任。
3.全部標準資料均來源于網(wǎng)絡，本站不承擔任何技術及版權問題，如有相關內容侵權，請聯(lián)系我們刪除。
