檢測報告圖片模板:
檢測執(zhí)行標準信息一覽:
標準簡介:本規(guī)范規(guī)定了編制半導體集成電路微處理器詳細規(guī)范的基本原則。本規(guī)范與GB 4589.1-84《半導體集成電路總規(guī)范》有關(guān)的一系列空白詳細規(guī)范之一。
標準號:GB 7509-1987
標準名稱:半導體集成電路微處理器空白詳細規(guī)范(可供認證用)
英文名稱:Blank detail specification for microprocessor semiconductor integrated circuits
標準類型:國家標準
標準性質(zhì):強制性
標準狀態(tài):現(xiàn)行
發(fā)布日期:1987-03-02
實施日期:1987-11-01
中國標準分類號(CCS):電子元器件與信息技術(shù)>>微電路>>L56半導體集成電路
國際標準分類號(ICS):信息技術(shù)、辦公機械設備>>35.160微處理機系統(tǒng)
起草單位:集成電路標委會微機工作組
歸口單位:全國半導體器件標準化技術(shù)委員會
發(fā)布單位:國家標準局
標準文檔查詢及下載
免責聲明:(更多標準請先聯(lián)系客服查詢!)
1.本站標準庫為非營利性質(zhì),僅供各行人士相互交流、學習使用,使用標準請以正式出版的版本為準。
2.全部標準資料均來源于網(wǎng)絡,不保證文件的準確性和完整性,如因使用文件造成損失,本站不承擔任何責任。
3.全部標準資料均來源于網(wǎng)絡,本站不承擔任何技術(shù)及版權(quán)問題,如有相關(guān)內(nèi)容侵權(quán),請聯(lián)系我們刪除。