透射電子顯微鏡樣品形貌分析

報(bào)告類型：【透射電子顯微鏡樣品形貌分析】電子報(bào)告、紙質(zhì)報(bào)告(中文報(bào)告、英文報(bào)告、中英文報(bào)告)

報(bào)告資質(zhì)： CMA；CNAS

檢測(cè)周期： 3-10個(gè)工作日（特殊樣品除外）

服務(wù)地區(qū)：全國(guó)，實(shí)驗(yàn)室就近分配

檢測(cè)用途：電商平臺(tái)入駐；商超賣場(chǎng)入駐；產(chǎn)品質(zhì)量改進(jìn)；產(chǎn)品認(rèn)證；出口通關(guān)檢驗(yàn)等

樣品要求：樣品支持快遞取送/上門采樣，數(shù)量及規(guī)格等視檢測(cè)項(xiàng)而定

概覽

檢測(cè)報(bào)告圖片

高分辨透射電子顯微鏡樣品形貌分析主要技術(shù)指標(biāo)：

1、點(diǎn)分辨率：0.25nm；線分辨率：0.102nm；STEM分辨率：0.20nm

2、加速電壓：80，100，200KV

3、傾斜角（X/Y）：±42/±30°；

4、配備德國(guó)Bruker公司XFlash 5030T型X射線能譜儀

應(yīng)用范圍：

1.應(yīng)用于材料科學(xué)、生命科學(xué)、醫(yī)療、制藥、半導(dǎo)體、納米技術(shù)等領(lǐng)域的顯微形貌、晶體結(jié)構(gòu)和相組織的觀察與分析；

2.各種材料微區(qū)化學(xué)成分的定性和半定量檢測(cè)；

3.粉末、納米粒子形態(tài)和粒度測(cè)定；

4.復(fù)合材料界面特性的研究。

一般透射電子顯微鏡樣品形貌分析報(bào)告上會(huì)標(biāo)注實(shí)驗(yàn)室收到樣品的時(shí)間、出具報(bào)告的時(shí)間，不會(huì)標(biāo)注有效期。

需要根據(jù)檢測(cè)項(xiàng)目、樣品數(shù)量及檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)而定，請(qǐng)聯(lián)系我們確定后報(bào)價(jià)。

百檢匯集眾多CNAS、CMA、CAL等資質(zhì)的檢測(cè)機(jī)構(gòu)遍布全國(guó)，檢測(cè)領(lǐng)域全行業(yè)覆蓋，為您提供透射電子顯微鏡樣品形貌分析服務(wù)。具體請(qǐng)咨詢?cè)诰€客服。

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