檢測(cè)報(bào)告圖片

BGA測(cè)試儀檢測(cè)報(bào)告如何辦理？測(cè)試哪些項(xiàng)目呢？檢測(cè)費(fèi)用價(jià)格是多少呢？下面小編為您解答。百檢也可依據(jù)相應(yīng)BGA測(cè)試儀檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)或者根據(jù)您的需求設(shè)計(jì)檢測(cè)方案。詳情咨詢：132-6275-2056。做檢測(cè)，上百檢！我們只做真實(shí)檢測(cè)。

檢測(cè)周期

一般3-15個(gè)工作日，可加急。

檢測(cè)方式

可寄樣檢測(cè)、目測(cè)檢測(cè)、見(jiàn)證試驗(yàn)、現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)等。

檢測(cè)費(fèi)用

具體根據(jù)BGA測(cè)試儀檢測(cè)檢測(cè)數(shù)量和項(xiàng)目而定。詳情請(qǐng)咨詢?cè)诰€客服。

檢測(cè)產(chǎn)品

0BGA測(cè)試儀簡(jiǎn)介

BGA測(cè)試儀可以測(cè)試IC各腳之間開短路，對(duì)GND和VCC的clampdiode，對(duì)地及相關(guān)腳的電阻及電容，對(duì)IC上電，量測(cè)關(guān)鍵點(diǎn)的電壓等手段檢測(cè)出不良IC，并能對(duì)不良情況進(jìn)行統(tǒng)計(jì)，以便做分析并查找對(duì)策。此方式對(duì)IC可測(cè)率達(dá)到98%以上。將是IC測(cè)試的實(shí)惠快速測(cè)試的變革，為BGA封裝不良返修測(cè)試提供行之有效測(cè)試解決方案。

1BGA測(cè)試儀應(yīng)用范圍

大批量返修IC的檢測(cè)。

不良IC的故障原因的查找及統(tǒng)計(jì)，以便改進(jìn)設(shè)計(jì)。

IC質(zhì)不高的來(lái)料檢查，查出率在99.5%以上，且速度快。

2BGA測(cè)試儀特點(diǎn)

支持GPIB外圍設(shè)備擴(kuò)展功能。

模塊化設(shè)計(jì)，為擴(kuò)展多種功能提供了測(cè)試平臺(tái)。

Board View功能可即時(shí)顯示不良腳位，針點(diǎn)位置，方便檢修。

測(cè)試程序全部自動(dòng)生成并ATPD（Auto Test Program Debug）。

PTI818 BGA測(cè)試儀系統(tǒng)具自我診斷功能及遠(yuǎn)端監(jiān)控和遙控功能。

完整豐富的測(cè)試統(tǒng)計(jì)資料及報(bào)表，且自動(dòng)儲(chǔ)存，不因斷電而遺失數(shù)據(jù)。

豐富的測(cè)試信號(hào)源及Reed Relay Switching Board,大大的保證了穩(wěn)定性和測(cè)試覆蓋率。

3BGA測(cè)試儀測(cè)試項(xiàng)目

IC內(nèi)部的開短路測(cè)試。

IC內(nèi)的保護(hù)二極體測(cè)試。

IC上元器件值的測(cè)試。

封裝與晶圓錫球接點(diǎn)的開短路測(cè)試。

對(duì)IC上電，測(cè)試關(guān)鍵點(diǎn)的電壓，來(lái)檢測(cè)內(nèi)部功能。

PintoPin、PintoGND、PintoVCC　阻抗比對(duì)測(cè)試。

PintoPin、pintoGND、PintoVCC　電容比對(duì)測(cè)試。

通用GPIB擴(kuò)展來(lái)量測(cè)IC關(guān)鍵點(diǎn)波形，頻率等參數(shù)。

以上BGA測(cè)試儀檢測(cè)相關(guān)信息，僅供參考，百檢為您提供一站式的檢測(cè)服務(wù)，包括：食品、環(huán)境、醫(yī)療、建材、電子、化工、汽車、家居、母嬰、玩具、箱包、水質(zhì)、化妝品、紡織品、日化品、農(nóng)產(chǎn)品等。更多檢測(cè)問(wèn)題請(qǐng)咨詢?cè)诰€客服。

檢測(cè)流程步驟

溫馨提示：《BGA測(cè)試儀檢測(cè)》內(nèi)容僅為部分列舉供參考使用，百檢網(wǎng)匯集眾多CNAS、CMA、CAL等資質(zhì)的檢測(cè)機(jī)構(gòu)遍布全國(guó)，更多檢測(cè)需求請(qǐng)咨詢客服。