- N +

x射線電子能譜分析檢測(cè)

檢測(cè)報(bào)告圖片

檢測(cè)報(bào)告圖片

x射線電子能譜分析檢測(cè)報(bào)告如何辦理?檢測(cè)項(xiàng)目及標(biāo)準(zhǔn)有哪些?百檢第三方檢測(cè)機(jī)構(gòu),嚴(yán)格按照x射線電子能譜分析檢測(cè)相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行測(cè)試和評(píng)估。做檢測(cè),找百檢。我們只做真實(shí)檢測(cè)。

涉及x射線電子能譜分析的標(biāo)準(zhǔn)有14條。

國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)分類中,x射線電子能譜分析涉及到分析化學(xué)、無(wú)損檢測(cè)。

在中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)分類中,x射線電子能譜分析涉及到基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法、顏料。

國(guó)家質(zhì)檢總局,關(guān)于x射線電子能譜分析的標(biāo)準(zhǔn)

GB/T 29556-2013表面化學(xué)分析 俄歇電子能譜和X射線光電子能譜 橫向分辨率、分析面積和分析器所能檢測(cè)到的樣品面積的測(cè)定

英國(guó)標(biāo)準(zhǔn)學(xué)會(huì),關(guān)于x射線電子能譜分析的標(biāo)準(zhǔn)

BS ISO 18554-2016表面化學(xué)分析. 電子光譜. 采用X射線光電子能譜分析法對(duì)材料進(jìn)行分析的X射線的意外降解的識(shí)別, 評(píng)估和修正程序

國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)化組織,關(guān)于x射線電子能譜分析的標(biāo)準(zhǔn)

ISO 18554:2016表面化學(xué)分析.電子光譜法.用X射線光電子能譜法分析的材料中X射線非預(yù)期降解的評(píng)定和校正程序

ISO 18554-2016表面化學(xué)分析. 電子光譜. 采用X射線光電子能譜分析法對(duì)材料進(jìn)行分析的X射線的意外降解的識(shí)別, 評(píng)估和修正程序

ISO/TR 19319-2003表面化學(xué)分析.俄歇電子能譜和X射線光電子能譜.分析員對(duì)橫向分辨率、分析區(qū)域和樣品區(qū)域的目視檢測(cè)

ISO/TR 19319:2003表面化學(xué)分析.俄歇電子能譜和X射線光電子能譜.用分析儀觀察橫向分辨率 分析面積和樣品面積的測(cè)定

日本工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)調(diào)查會(huì),關(guān)于x射線電子能譜分析的標(biāo)準(zhǔn)

JIS K0167-2011表面化學(xué)分析.俄歇電子光譜和X射線光電子能譜學(xué).勻質(zhì)材料定量分析用實(shí)驗(yàn)室測(cè)定相對(duì)敏感因子的使用指南

韓國(guó)標(biāo)準(zhǔn),關(guān)于x射線電子能譜分析的標(biāo)準(zhǔn)

KS D ISO 19319-2005表面化學(xué)分析.俄歇電子能譜和X射線光電子能譜.分析員對(duì)橫向分辨率、分析區(qū)域和樣品區(qū)域的目視檢測(cè)

KS D ISO 19319-2005表面化學(xué)分析.俄歇電子能譜和X射線光電子能譜.分析員對(duì)橫向分辨率、分析區(qū)域和樣品區(qū)域的目視檢測(cè)

,關(guān)于x射線電子能譜分析的標(biāo)準(zhǔn)

KS D ISO 19319-2005(2020)表面化學(xué)分析-俄歇電子能譜和X射線光電子能譜-分析儀橫向分辨率、分析面積和樣品面積的測(cè)定

福建省地方標(biāo)準(zhǔn),關(guān)于x射線電子能譜分析的標(biāo)準(zhǔn)

DB35/T 110-2000油漆物證檢測(cè)電子探針和掃描電鏡X射線能譜分析方法

美國(guó)材料與試驗(yàn)協(xié)會(huì),關(guān)于x射線電子能譜分析的標(biāo)準(zhǔn)

ASTM E996-1994(1999)俄歇電子能譜分析和X射線光電子光譜分析數(shù)據(jù)報(bào)告的標(biāo)準(zhǔn)規(guī)程

澳大利亞標(biāo)準(zhǔn)協(xié)會(huì),關(guān)于x射線電子能譜分析的標(biāo)準(zhǔn)

AS ISO 18118-2006表面化學(xué)分析.俄歇電子能譜法和X射線光電子光譜法.均質(zhì)材料定量分析中實(shí)驗(yàn)測(cè)定的相對(duì)靈敏系數(shù)使用指南

AS ISO 19319-2006表面化學(xué)分析.Augur電子能譜法和X射線光電子光譜法.分析員對(duì)橫向分辨率;分析區(qū)域和樣品區(qū)域的目視檢測(cè)

檢測(cè)報(bào)告有效期

一般x射線電子能譜分析檢測(cè)報(bào)告上會(huì)標(biāo)注實(shí)驗(yàn)室收到樣品的時(shí)間、出具報(bào)告的時(shí)間,不會(huì)標(biāo)注有效期。

檢測(cè)費(fèi)用價(jià)格

需要根據(jù)檢測(cè)項(xiàng)目、樣品數(shù)量及檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)而定,請(qǐng)聯(lián)系我們確定后報(bào)價(jià)。

檢測(cè)流程步驟

檢測(cè)流程步驟

溫馨提示:以上內(nèi)容為部分列舉,僅供參考使用。更多檢測(cè)問(wèn)題請(qǐng)咨詢客服。

返回列表
上一篇:x熒光測(cè)定石灰石檢測(cè)
下一篇:x光射線檢測(cè)