xps表面檢測

檢測報告圖片

xps表面檢測報告如何辦理？檢測項目及標準有哪些？百檢第三方檢測機構(gòu)，嚴格按照xps表面檢測相關(guān)標準進行測試和評估。做檢測，找百檢。我們只做真實檢測。

涉及xps 表面的標準有14條。

國際標準分類中，xps 表面涉及到分析化學。

在中國標準分類中，xps 表面涉及到基礎標準與通用方法、化學。

GB/T 34326-2017表面化學分析深度剖析 AES和XPS深度剖析時離子束對準方法及其束流或束流密度測量方法

GB/T 33502-2017表面化學分析 X射線光電子能譜（XPS）數(shù)據(jù)記錄與報告的規(guī)范要求

ISO 16531-2020表面化學分析 - 深度分析 - 離子束對準方法和相關(guān)的電流或電流密度測量用于AES和XPS中的深度分析

ISO 16531-2013表面化學分析.深度剖析.原子發(fā)射光譜(AES)和光電子能譜(XPS)中深度剖析用電流或電流密度的離子束校正和相關(guān)測量方法

ISO 16531:2013表面化學分析——深度剖面——用于AES和XPS深度剖面的離子束對準和相關(guān)電流或電流密度測量方法

ISO 16243-2011表面化學分析.X射線光電子能譜術(shù)(XPS)的記錄和報告數(shù)據(jù)

ISO 16243:2011表面化學分析——X射線光電子能譜（XPS）中的數(shù)據(jù)記錄和報告

GOST R ISO 16243-2016確保測量一致性的國家系統(tǒng). 表面化學分析. X射線光電子能譜 (XPS) 的記錄和報告數(shù)據(jù)

BS ISO 16531-2013表面化學分析.深度剖析.在光電子能譜(XPS)和原子發(fā)射光譜(AES)的深度剖析中離子束校準和電流或電流密度的相關(guān)測量用方法

BS ISO 16243-2011表面化學分析.X射線光電子能譜術(shù)(XPS)的記錄和報告數(shù)據(jù)

NF X21-073-2012表面化學分析.X射線光電子能譜術(shù)(XPS)的記錄和報告數(shù)據(jù)

一般xps表面檢測報告上會標注實驗室收到樣品的時間、出具報告的時間，不會標注有效期。

需要根據(jù)檢測項目、樣品數(shù)量及檢測標準而定，請聯(lián)系我們確定后報價。

溫馨提示：以上內(nèi)容為部分列舉，僅供參考使用。更多檢測問題請咨詢客服。

標簽：