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芯片EMC測(cè)試項(xiàng)目與檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)詳解

檢測(cè)報(bào)告圖片樣例

芯片EMC測(cè)試的必要性

1.受到較強(qiáng)電磁干擾的芯片將影響電子設(shè)備的正常工作

2.部分芯片本身將對(duì)周邊的電子電氣設(shè)備產(chǎn)生不可忽視的電磁干擾,對(duì)整個(gè)系統(tǒng)的可靠性造成威脅

芯片EMC測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)

1.SAE J1752-3

2.IEC 61967

3.IEC62132

芯片EMC測(cè)試項(xiàng)目

1.傳導(dǎo)干擾(9/150kHz – 30MHz)

2.輻射干擾(30MHz – 300/1000MHz)

3.諧波電流

4.電壓波動(dòng)

芯片EMC測(cè)試周期

一、測(cè)試準(zhǔn)備(6——8周)

1.客戶(hù)確認(rèn)芯片需要過(guò)的等級(jí)(例如G8f等級(jí))

2.測(cè)試板設(shè)計(jì)和制造(設(shè)計(jì)2-3周,制造——4周)

3.測(cè)試板軟硬件驗(yàn)證

二、實(shí)際測(cè)試(1——2周)

1.數(shù)據(jù)收集,測(cè)試板不同方向上輻射等級(jí)

2.如需要,軟硬件調(diào)整后再收集數(shù)據(jù)

芯片EMC測(cè)試報(bào)告辦理流程

1. 業(yè)務(wù)咨詢(xún):申請(qǐng)人提供產(chǎn)品資料、圖片及測(cè)試要求給我司;

2. 工程報(bào)價(jià):根據(jù)申請(qǐng)人提供的資料,工程師作出評(píng)估,確定測(cè)試項(xiàng)目,并向申請(qǐng)方口頭報(bào)價(jià);

3. 提供資料:申請(qǐng)方接受口頭報(bào)價(jià)后,測(cè)試樣品提交到我司;

4. 支付款項(xiàng):收到樣品后向申請(qǐng)方發(fā)出書(shū)面報(bào)價(jià),申請(qǐng)方根據(jù)書(shū)面報(bào)價(jià)安排付款;

5. 樣品測(cè)試:依照所適用的標(biāo)準(zhǔn)或客戶(hù)要求進(jìn)行產(chǎn)品測(cè)試;


檢測(cè)流程步驟

檢測(cè)流程步驟

溫馨提示:以上內(nèi)容僅供參考使用,更多檢測(cè)需求請(qǐng)咨詢(xún)客服。

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