特征x射線光譜分析檢測(cè)報(bào)告如何辦理？檢測(cè)項(xiàng)目及標(biāo)準(zhǔn)有哪些？百檢第三方檢測(cè)機(jī)構(gòu)，嚴(yán)格按照特征x射線光譜分析檢測(cè)相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行測(cè)試和評(píng)估。做檢測(cè)，找百檢。我們只做真實(shí)檢測(cè)。

涉及特征x射線光譜 分析的標(biāo)準(zhǔn)有499條。

國際標(biāo)準(zhǔn)分類中，特征x射線光譜 分析涉及到黑色金屬、分析化學(xué)、金屬材料試驗(yàn)、金屬礦、鋼鐵產(chǎn)品、有色金屬、耐火材料、詞匯、鐵合金、建筑材料、光學(xué)和光學(xué)測(cè)量、電站綜合、涂料配料、無損檢測(cè)、核能工程、非金屬礦、物理學(xué)、化學(xué)、無機(jī)化學(xué)、輻射測(cè)量、輻射防護(hù)、化工產(chǎn)品、廢物、長度和角度測(cè)量、職業(yè)安全、工業(yè)衛(wèi)生、橡膠和塑料工業(yè)的生產(chǎn)工藝、醫(yī)學(xué)科學(xué)和保健裝置綜合、計(jì)量學(xué)和測(cè)量綜合、土質(zhì)、土壤學(xué)、燃料、醫(yī)療設(shè)備、表面處理和鍍涂、金屬的腐蝕、電學(xué)、磁學(xué)、電和磁的測(cè)量、有色金屬產(chǎn)品、紡織產(chǎn)品、光學(xué)設(shè)備、犯罪行為防范、消防、石油、石油產(chǎn)品和天然氣儲(chǔ)運(yùn)設(shè)備、石油產(chǎn)品綜合、地質(zhì)學(xué)、氣象學(xué)、水文學(xué)、食用油和脂肪、含油種子、陶瓷、燃燒器、鍋爐、潤滑劑、工業(yè)油及相關(guān)產(chǎn)品、水質(zhì)、有機(jī)化學(xué)、攝影技術(shù)。

在中國標(biāo)準(zhǔn)分類中，特征x射線光譜 分析涉及到鋼鐵與鐵合金分析方法、金屬化學(xué)分析方法綜合、鐵礦、質(zhì)譜儀、液譜儀、能譜儀及其聯(lián)用裝置、耐火材料綜合、基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法、化學(xué)、稀有輕金屬及其合金、建材產(chǎn)品綜合、電子光學(xué)與其他物理光學(xué)儀器、重金屬及其合金分析方法、電力試驗(yàn)技術(shù)、涂料基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法、稀有金屬及其合金分析方法、金屬無損檢驗(yàn)方法、有色金屬礦綜合、化學(xué)計(jì)量、不定型耐火材料、定型隔熱耐火材料、鋼鐵產(chǎn)品綜合、化學(xué)試劑綜合、電化學(xué)、熱化學(xué)、光學(xué)式分析儀器、Ｘ射線、磁粉、熒光及其他探傷儀器、放射源、水泥、同位素與放射源綜合、建材原料礦、電子元件綜合、輕金屬及其合金分析方法、有色金屬及其合金產(chǎn)品綜合、冶金原料與輔助材料綜合、核儀器與核探測(cè)器綜合、實(shí)驗(yàn)室基礎(chǔ)設(shè)備、物理學(xué)與力學(xué)、通用核儀器、稀有金屬礦、、催化劑基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法、放射衛(wèi)生防護(hù)、半導(dǎo)體分立器件綜合、合成樹脂、塑料基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法、輻射防護(hù)儀器、焦炭、燃料油、電子測(cè)量與儀器綜合、光學(xué)計(jì)量儀器、材料防護(hù)、土壤、肥料綜合、土壤環(huán)境質(zhì)量分析方法、半金屬及半導(dǎo)體材料分析方法、犯罪鑒定技術(shù)、金屬物理性能試驗(yàn)方法、工業(yè)廢水、污染物分析方法、貴金屬及其合金分析方法、基本有機(jī)化工原料、炭素材料、潤滑油、石油產(chǎn)品綜合、顏料、硅質(zhì)耐火材料、混凝土、集料、灰漿、砂漿、輕金屬及其合金、重金屬礦、地球科學(xué)、化學(xué)助劑基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法、特種陶瓷、生活服務(wù)汽車、油料作物與產(chǎn)品、煤炭分析方法、衛(wèi)生、安全、勞動(dòng)保護(hù)、陶瓷、玻璃綜合、金屬理化性能試驗(yàn)方法綜合、核材料、核燃料及其分析試驗(yàn)方法、固體廢棄物、土壤及其他環(huán)境要素采樣方法、堿性耐火材料、光學(xué)測(cè)試儀器、冶金輔助原料礦、醫(yī)用射線設(shè)備、氧化物、單質(zhì)、放射性同位素應(yīng)用儀器。

日本工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)調(diào)查會(huì)，關(guān)于特征x射線光譜 分析的標(biāo)準(zhǔn)

JIS G 1256:1997鋼鐵.X射線熒光光譜分析法

JIS M 8205:2000鐵礦石.X射線熒光光譜儀分析

JIS R 2216:2005耐火制品X射線熒光光譜分析法

JIS H 1631:2008鈦合金.X射線熒光光譜測(cè)定分析法

JIS G 1256 AMD 1:2010鋼鐵.X射線熒光光譜測(cè)定分析方法

JIS G 1351:2006鐵合金.X-射線熒光光譜測(cè)定分析法

JIS H 1292:1997銅和銅合金的X射線熒光光譜分析法

JIS H 1287:2015鎳和鎳合金. X射線熒光光譜分析方法

JIS G 1256 AMD 2:2013鋼鐵.X射線熒光光譜分析法(修改件2)

JIS H 1669:1990鋯合金的X射線熒光光譜測(cè)定分析方法

JIS G 1351:1987鐵合金的X射線熒光光譜測(cè)定分析方法

JIS R 2216:1995耐火磚和耐火灰漿X射線熒光光譜分析方法

JIS H 1292:2018銅合金.X射線熒光分光分析法

JIS H 1292:2005銅合金的X射線熒光分光分析法

JIS K 0181:2021表面化學(xué)分析 水的全反射X射線熒光分析

JIS M 8205:1983鐵礦石熒光X射線分析方法

JIS G 1256:1982鋼鐵的熒光X射線分析方法

JIS K 0190:2010微光束分析.電子探針顯微分析.波長分散X射線光譜法對(duì)質(zhì)量點(diǎn)分析用指南

JIS K 0152:2014表面化學(xué)分析. X射線光電子能譜分析. 強(qiáng)度標(biāo)的重復(fù)性和一致性

JIS K 0162:2010表面化學(xué)分析.X射線光電光譜法.選定的儀器性能參數(shù)的描述

JIS T 0306:2002用X射線光電子光譜法分析金屬生物材料形成的無源膜的狀態(tài)

JIS G 1204:1978鋼鐵熒光X射線分析方法的通用規(guī)則

JIS K 0189:2013微束分析.電子探針顯微分析.波長色散X射線光譜學(xué)用實(shí)驗(yàn)參數(shù)的測(cè)定

JIS K 0145:2002表面化學(xué)分析.X射線光電子分光計(jì).能量刻度的校準(zhǔn)

JIS R 5204:2002用X射線熒光法對(duì)水泥進(jìn)行化學(xué)分析的方法

JIS R 5204:2019用X射線熒光法對(duì)水泥進(jìn)行化學(xué)分析的方法

JIS K 0167:2011表面化學(xué)分析.俄歇電子光譜和X射線光電子能譜學(xué).勻質(zhì)材料定量分析用實(shí)驗(yàn)室測(cè)定相對(duì)敏感因子的使用指南

JIS Z 4752-2-6:2001醫(yī)療圖像部門的評(píng)估和常規(guī)檢驗(yàn).第2-6部分:穩(wěn)定性試驗(yàn).計(jì)算層析X光射線照相術(shù)用X光射線設(shè)備

JIS Z 4752-2-6:2012醫(yī)療圖像部門的評(píng)估和常規(guī)檢驗(yàn).第2-6部分:穩(wěn)定性試驗(yàn).計(jì)算層析X光射線照相術(shù)用X光射線設(shè)備

美國材料與試驗(yàn)協(xié)會(huì)，關(guān)于特征x射線光譜 分析的標(biāo)準(zhǔn)

ASTM E1621-21X射線發(fā)射光譜分析標(biāo)準(zhǔn)指南

ASTM E1621-05X射線發(fā)散光譜分析標(biāo)準(zhǔn)指南

ASTM D5381-93(2003)顏料和填充劑的X射線螢光(XRF)光譜分析

ASTM D5381-93(1998)顏料和填充劑的X射線螢光(XRF)光譜分析

ASTM E1085-95(2004)金屬的X射線輻射光譜測(cè)定分析試驗(yàn)方法

ASTM E1085-95(2000)金屬的X射線輻射光譜測(cè)定分析試驗(yàn)方法

ASTM E1085-95(2004)e1金屬的X射線輻射光譜測(cè)定分析試驗(yàn)方法

ASTM E572-94(2000)不銹鋼X射線發(fā)射光譜分析的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法

ASTM E572-02a(2006)e1不銹鋼X射線發(fā)射光譜分析的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法

ASTM E572-02a(2006)不銹鋼X射線發(fā)射光譜分析的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法

ASTM E572-02a不銹鋼X射線發(fā)射光譜分析的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法

ASTM E1361-90(1999)X射線光譜分析中入射效應(yīng)校正的標(biāo)準(zhǔn)指南

ASTM E572-94(2000)e1不銹鋼X射線發(fā)射光譜分析的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法

ASTM E1361-02(2021)X射線光譜分析中入射效應(yīng)校正的標(biāo)準(zhǔn)指南

ASTM E322-96e1低合金鋼和鑄鐵的X射線發(fā)射光譜測(cè)定分析法

ASTM E996-94(1999)俄歇電子能譜分析和X射線光電子光譜分析數(shù)據(jù)報(bào)告的標(biāo)準(zhǔn)規(guī)程

ASTM E1621-13波長色散X射線熒光光譜法元素分析的標(biāo)準(zhǔn)指南

ASTM C1271-99(2006)石灰和石灰?guī)rX射線光譜分析標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法

ASTM C1271-99石灰石灰石X射線光譜分析的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法

ASTM C1271-99(2020)石灰石灰石X射線光譜分析的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法

ASTM E539-11利用 X 射線熒光光譜法分析鈦合金的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法

ASTM E1085-09用X 射線熒光光譜法分析低合金鋼的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法

ASTM E2465-19用X射線熒光光譜法分析鎳基合金的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法

ASTM E2465-11e1用 X 射線光譜法分析鎳基合金的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法

ASTM C1271-99(2012)石灰和石灰?guī)rX射線光譜分析的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法

ASTM E322-96(2004)低合金鋼和鑄鐵的X射線發(fā)射光譜分析的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法

ASTM E1621-94(1999)用波長色散X射線熒光光譜法進(jìn)行元素分析的標(biāo)準(zhǔn)指南

ASTM E1621-22用波長色散X射線熒光光譜法進(jìn)行元素分析的標(biāo)準(zhǔn)指南

ASTM E539-19用波長色散X射線熒光光譜法分析鈦合金的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法

ASTM F2547-06防止X射線設(shè)備產(chǎn)生的輻射用一次X射線材料光束的衰減特征測(cè)定的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法

ASTM F2547-06(2013)防止X射線設(shè)備產(chǎn)生的輻射用一次X射線材料光束的衰減特征測(cè)定的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法

ASTM F2547-18防止X射線設(shè)備產(chǎn)生的輻射用一次X射線材料光束的衰減特征測(cè)定的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法

ASTM E539-90(1996)e16鋁4釩鈦合金的X射線輻射光譜測(cè)定分析的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法

ASTM E539-026鋁4釩鈦合金的X射線輻射光譜測(cè)定分析的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法

ASTM E539-066鋁4釩鈦合金的X射線輻射光譜測(cè)定分析的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法

ASTM E1361-02X射線光譜測(cè)定分析中共存元素效應(yīng)校正的標(biāo)準(zhǔn)指南

ASTM E1361-02(2007)X射線光譜測(cè)定分析中共存元素效應(yīng)校正的標(biāo)準(zhǔn)指南

ASTM E1361-02(2014)e1X射線光譜測(cè)定分析中共存元素效應(yīng)校正的標(biāo)準(zhǔn)指南

ASTM E539-076鋁4釩鈦合金的X射線熒光光譜測(cè)定分析用標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法

ASTM E2465-11用波長色散X射線熒光光譜法分析鎳基合金的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法

ASTM E1085-22用波長色散X射線熒光光譜法分析低合金鋼的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法

ASTM E2465-13用波長色散X射線熒光光譜法分析鎳基合金的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法

ASTM D6247-98(2004)用X射線熒光光譜法分析聚烯烴中元素含量的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法

ASTM E1588-10e1掃描電子顯微術(shù)/能量散射X射線光譜法射擊殘留物分析的標(biāo)準(zhǔn)指南

ASTM E2465-06用X射線熒光光譜測(cè)定法分析不銹鋼和合金鋼的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法

ASTM E572-02a(2006)e2用X射線熒光光譜測(cè)定法分析不銹鋼和合金鋼的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法

ASTM E1085-16采用波長色散X射線熒光光譜法分析低合金鋼的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法

ASTM E902-05檢查X射線光電子光譜儀的操作特性的標(biāo)準(zhǔn)實(shí)施規(guī)程

ASTM C1255-93(1999)用能量色散X射線熒光光譜法分析土壤中鈾和釷的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法

ASTM C1255-18用能量色散X射線熒光光譜法分析土壤中鈾和釷的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法

ASTM C1255-93(2005)用能量色散X射線熒光光譜法分析土壤中鈾和釷的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法

ASTM C1255-11用能量色散X射線熒光光譜法分析土壤中鈾和釷的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法

ASTM E572-12用波長色散X射線熒光光譜法分析不銹鋼和合金鋼的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法

ASTM E322-12用波長色散X射線熒光光譜法分析低合金鋼和鑄鐵的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法

ASTM E572-13用波長色散X射線熒光光譜法分析不銹鋼和合金鋼的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法

ASTM E1031-96用 X 射線光譜法分析煉鐵和煉鋼渣的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法（2002 年撤回）

ASTM D6247-10用波長分散X射線熒光光譜分析聚烯烴中基本元素含量試的標(biāo)準(zhǔn)驗(yàn)方法

ASTM E902-94(1999)檢查X射線光電子能譜儀工作特性的標(biāo)準(zhǔn)實(shí)施規(guī)程

ASTM F1375-92(2005)氣體分配系統(tǒng)元部件用金屬表面狀態(tài)的能量分散X射線分光光譜分析試驗(yàn)法

ASTM D5839-96(2001)能量發(fā)散X射線熒光光譜法分析危險(xiǎn)廢油中痕量元素的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法

ASTM D5839-96(2006)能量發(fā)散X射線熒光光譜法分析危險(xiǎn)廢油中痕量元素的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法

ASTM E572-21通過波長色散X射線熒光光譜法分析不銹鋼和合金鋼的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法

ASTM E1588-16采用掃描電子顯微術(shù)/能量散射X射線光譜法進(jìn)行射擊殘留物分析的標(biāo)準(zhǔn)指南

ASTM D6247-98用X射線熒光度譜術(shù)對(duì)聚烯烴內(nèi)元素含量分析的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法

ASTM C1605-04(2014)陶瓷白色材料化學(xué)分析的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法使用波長色散X射線熒光光譜法

ASTM E1588-16a采用掃描電子顯微術(shù)/能量散射X射線光譜法進(jìn)行射擊殘留物分析的標(biāo)準(zhǔn)實(shí)施規(guī)程

ASTM E1588-17采用掃描電子顯微術(shù)/能量散射X射線光譜法進(jìn)行射擊殘留物分析的標(biāo)準(zhǔn)實(shí)施規(guī)程

ASTM D5839-15采用能量發(fā)散X射線熒光光譜法分析危險(xiǎn)廢油中微量元素的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法

ASTM C1605-04使用波長色散X射線熒光光譜法進(jìn)行白色陶瓷材料化學(xué)分析的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法

ASTM C1605-04(2009)使用波長色散X射線熒光光譜法進(jìn)行白色陶瓷材料化學(xué)分析的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法

ASTM C1455-00用Υ射線光譜法對(duì)特殊核物質(zhì)含量的無損分析的標(biāo)準(zhǔn)指南

ASTM E1588-07e1用掃描電子顯微鏡法/能量色散X射線光譜測(cè)定法的射擊殘留物分析用標(biāo)準(zhǔn)指南

ASTM E1588-07用掃描電子顯微鏡法/能量色散X射線光譜測(cè)定法的射擊殘留物分析用標(biāo)準(zhǔn)指南

ASTM D5839-96通過能量分散X射線熒光光譜法對(duì)危險(xiǎn)廢物燃料進(jìn)行痕量元素分析的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法

ASTM C1110-03(2008)使用玻璃熔化或壓制粉末法制備礦石中鈾X射線發(fā)射光譜分析用樣品的標(biāo)準(zhǔn)方法

ASTM C1455-07用Υ射線光譜法對(duì)特殊核物質(zhì)含量無損分析的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法

ASTM C1455-14用γ射線光譜法對(duì)特殊核物質(zhì)含量無損分析的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法

ASTM D6445-99能量分散X射線熒光光譜法測(cè)定汽油中硫的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法

ASTM D6445-99(2004)e1能量分散X射線熒光光譜法測(cè)定汽油中硫的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法

ASTM D2332-84(1999)通過波長 - 分散X射線熒光分析水形沉積物的標(biāo)準(zhǔn)實(shí)踐

ASTM F1375-92(2012)氣體分配系統(tǒng)元部件用金屬表面狀態(tài)的能量分散X射線分光光譜儀 (EDX) 分析的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法

ASTM C1110-88(1997)e1使用玻璃熔化或壓制粉末法制備礦石中鈾的X射線發(fā)射光譜分析用樣品的標(biāo)準(zhǔn)規(guī)程

ASTM C1221-92(2004)γ射線光譜法無損分析均相溶液中特種核材料的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法

ASTM C1221-92(1998)γ射線光譜法無損分析均相溶液中特種核材料的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法

ASTM C1221-10γ射線光譜法無損分析均相溶液中特種核材料的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法

ASTM E1588-20通過掃描電子顯微鏡/能量色散X射線光譜法進(jìn)行支殘留分析的標(biāo)準(zhǔn)實(shí)踐

ASTM D7343-07石油產(chǎn)品和潤滑劑元素分析用X射線熒光光譜法的優(yōu)化、制樣、校正和鑒定的實(shí)施規(guī)程

行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-黑色冶金，關(guān)于特征x射線光譜 分析的標(biāo)準(zhǔn)

YB/T 4177-2008爐渣 X射線熒光光譜分析方法

RU-GOST R，關(guān)于特征x射線光譜 分析的標(biāo)準(zhǔn)

GOST R 55080-2012鑄鐵. X射線熒光光譜(XRF)分析法

GOST 28033-1989鋼.X射線熒光分析法

GOST 16865-1979X射線結(jié)構(gòu)和光譜分析裝置.術(shù)語和定義

GOST R 55410-2013耐火材料. X射線熒光(XRF)分析

GOST 22091.8-1984X射線儀.光譜成分和光譜相對(duì)污染程度測(cè)量方法

GOST 33850-2016土壤. 采用X射線熒光光譜法測(cè)定化學(xué)成分

GOST 31222-2003醫(yī)療電氣設(shè)備.電光X-射線圖像增強(qiáng)器特征.第4部分.圖像失真的測(cè)定

GOST 31222.2-2012醫(yī)療電氣設(shè)備.電光X-射線圖像增強(qiáng)器的特征.第2部分.換算系數(shù)的測(cè)定

GOST R 55879-2013固體礦物燃料. 使用X射線熒光光譜法測(cè)定灰分的化學(xué)成分

GOST 32139-2013石油和石油制品. 使用能量分散X射線熒光光譜法測(cè)定硫含量

韓國科技標(biāo)準(zhǔn)局，關(guān)于特征x射線光譜 分析的標(biāo)準(zhǔn)

KS D 1654-1993鋼鐵X射線熒光光譜分析通則

KS D 1654-2003(2016)鋼鐵X射線熒光光譜分析通則

KS D 2710-2019鈮鐵的X射線熒光光譜分析法

KS D 1655-1993鋼鐵的X射線熒光光譜分析方法

KS M 0017-1995X射線熒光光譜分析的一般規(guī)則

KS D 1898-2019銅合金的X射線熒光光譜法分析

KS L 3316-2014耐火制品X射線熒光光譜分析方法

KS D 1686-2011(2021)鐵合金的x射線熒光光譜分析方法

KS L 3316-2014(2019)耐火制品X射線熒光光譜分析方法

KS L 3316-1998耐火制品X射線熒光光譜分析方法

KS L 3316-1988耐火制品X射線熒光光譜分析方法

KS E 3076-2017硅石和硅砂的X射線熒光光譜分析方法

KS E 3076-2022硅石和硅砂的X射線熒光光譜分析方法

KS D 2597-1996(2021)鋯及鋯合金的X射線熒光光譜分析方法

KS L 3316-2009耐火磚和耐火泥漿X射線熒光光譜分析法

KS E 3075-2002石灰石、白云石的X射線熒光光譜分析方法

KS D 1655-2008(2019)用于鋼鐵的X射線熒光光譜測(cè)定分析方法

KS E 3075-2017石灰石和白云石的X射線熒光光譜分析方法

KS D 1686-2011(2016)對(duì)于鐵合金的X射線熒光光譜測(cè)定分析方法

KS E 3075-2022石灰石和白云石的X射線熒光光譜分析方法

KS M 0017-2010X射線熒光分析法通則

KS D ISO 15472:2003表面化學(xué)分析.X射線光電光譜儀.能量刻度的校正

KS D 2597-1996(2016)對(duì)于鋯和鋯合金的X射線熒光光譜測(cè)定分析方法

KS D ISO 17054:2018通過X射線熒光光譜法（XRF）分析高合金鋼的常規(guī)方法

KS L 5222-2009水泥的熒光X.射線分析方法

KS D 1898-1993銅合金熒光X射線分析方法

KS E 3045-2002(2007)鐵礦石的如何X射線熒光分析

KS D ISO 15470-2005(2020)表面化學(xué)分析X射線光電子能譜儀部分性能參數(shù)說明

KS D ISO 21270:2005表面化學(xué)分析.X射線光電子能譜儀和俄歇電子能譜儀.強(qiáng)度標(biāo)的線性

KS D ISO 14706:2003表面化學(xué)分析.用全反射X射線熒光光譜法測(cè)定硅圓片表面主要污物

KS D ISO 22489:2012微光束分析.電子探針微量分析.運(yùn)用波長色散X射線光譜測(cè)量法定量分析塊狀樣品

KS D ISO 15470:2005表面化學(xué)分析.X射線光電光譜法.選定的儀器性能參數(shù)的描述

KS D ISO 21270-2005(2020)表面化學(xué)分析X射線光電子能譜儀和俄歇電子能譜儀強(qiáng)度標(biāo)度的線性

KS L 5222-2009(2019)通過x射線熒光水泥的化學(xué)分析方法

KS D ISO 19318:2005表面化學(xué)分析.X射線光電光譜法.電荷控制和電荷校正方法的報(bào)告

KS D ISO 19319-2005(2020)表面化學(xué)分析－俄歇電子能譜和X射線光電子能譜－分析儀橫向分辨率、分析面積和樣品面積的測(cè)定

KS M 1068-2005使用熒光X-射線分析的有毒物質(zhì)的定性/定量分析

KS D ISO 22489:2018微束分析 - 電子探針微量分析 - 使用波長色散X射線光譜法的批量樣品的定量點(diǎn)分析

KS D ISO 15472-2003(2018)表面化學(xué)分析-X射線光電子分光器-能量刻度矯正

KS D ISO 19318-2005(2020)表面化學(xué)分析X射線光電子能譜電荷控制和電荷校正方法報(bào)告

KS D ISO 14706-2003(2018)表面化學(xué)分析-全反射X-射線熒光分析儀測(cè)定硅片表面元素雜質(zhì)

KS D ISO 19319:2005表面化學(xué)分析.俄歇電子能譜和X射線光電子能譜.分析員對(duì)橫向分辨率、分析區(qū)域和樣品區(qū)域的目視檢測(cè)

KS E 3076-2002單程二氧化硅和二氧化硅的X.射線熒光分析

KS M ISO 12980:2004鋁生產(chǎn)用碳質(zhì)材料.電極用未煅燒焦炭和煅燒焦炭.用X射線熒光光譜法分析

KS M ISO 12980:2013鋁生產(chǎn)用碳質(zhì)材料 電極用未煅燒焦炭和煅燒焦炭 用X射線熒光光譜法分析

KS D ISO 18118:2005表面化學(xué)分析.俄歇電子光譜法和X射線光電子光譜法.同質(zhì)材料定量分析用實(shí)驗(yàn)室測(cè)定相對(duì)敏感性因子的使用指南

KS M ISO 8754:2003石油產(chǎn)品.硫含量的測(cè)定.能量分散X射線熒光光譜測(cè)定法

KS E ISO 9516-1-2006(2016)鐵礦石X射線熒光光譜法測(cè)定各種元素第1部分:綜合程序

KS E ISO 9516-1-2006(2021)鐵礦石X射線熒光光譜法測(cè)定各種元素第1部分:綜合程序

KS L ISO 10058-3:2012菱鎂礦和白云石耐火制品的化學(xué)分析(可選X射線熒光法).第3部分:火焰原子吸收光譜法(FAAS)和感應(yīng)耦合等離子體發(fā)射光譜法(ICP.AES)

KS M ISO 14597:2003液體燃料檢驗(yàn).釩和鎳含量的測(cè)定.X射線熒光分析法

德國標(biāo)準(zhǔn)化學(xué)會(huì)，關(guān)于特征x射線光譜 分析的標(biāo)準(zhǔn)

DIN 51418-1:1996X光射線光譜測(cè)定法.X光射線散射和X光射線熒光分析(RFA).第1部分:定義和基本原理

DIN 51418-1:2008X射線光譜測(cè)定法.X射線散射和X射線熒光分析(XRF).第1部分:定義和基本原理

DIN 51418-2:2015X射線光譜分析.X射線散射和X射線熒光分析(RFA).第2部分:定義和測(cè)量、校準(zhǔn)及評(píng)估的基本原則

DIN 51418-2:1996X射線光譜分析.X射線散射和X射線熒光分析(RFA).第2部分:定義和測(cè)量、校準(zhǔn)及評(píng)估的基本原則

DIN 51418-1:2008-08射線光譜測(cè)定 X 射線發(fā)射和 X 射線熒光分析(XRF)第1部分：定義和基本原理

DIN ISO 16129:2020-11表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜 X射線光電子能譜儀日常性能評(píng)估程序

DIN 51418-2:2015-03X 射線光譜測(cè)定 X 射線發(fā)射和 X 射線熒光分析(XRF)第2部分：測(cè)量、校準(zhǔn)和結(jié)果評(píng)估的定義和基本原則

DIN CEN/TR 16176:2012-03*DIN SPEC 19776:2012-03廢物表征 X射線熒光光譜法元素成分篩選方法 用于現(xiàn)場(chǎng)驗(yàn)證

DIN ISO 16129:2020表面化學(xué)分析. X射線光電子能譜-評(píng)估X射線光電子能譜儀的日常性能的程序(ISO 16129-2018); 英文文本

DIN EN 10315:2006使用臨近技術(shù)用X射線熒光光譜法(XRF)分析高合金鋼的常規(guī)法

DIN 51440-1:2003汽油檢測(cè).磷含量測(cè)定.第1部分:波長色散X射線光譜分析法

DIN ISO 15472:2020-05表面化學(xué)分析 - X 射線光電子能譜儀 - 能量標(biāo)度校準(zhǔn) (ISO 15472:2010)

DIN IEC 62495:2011核儀器.使用微型X射線管的便攜式X射線熒光分析設(shè)備(IEC 62495-2011)

DIN EN 10315:2006-10使用近旁技術(shù)通過 X 射線熒光光譜法(XRF)分析高合金鋼的常規(guī)方法

DIN ISO 15472:2020表面化學(xué)分析 X 射線光電子能譜儀 能標(biāo)校準(zhǔn)（ISO 15472:2010）；英文文本

DIN 51418-2 Bb.1:2000X射線光度法.X射線散射和X射線熒光分析(XRF).第2部分:定義和測(cè)量、校準(zhǔn)及對(duì)結(jié)果評(píng)定的基本原理.附加信息和計(jì)算范例

DIN EN 15309:2007-08廢物和土壤的表征 通過 X 射線熒光測(cè)定元素成分

DIN 51431-2:2004潤滑劑的檢驗(yàn).鎂含量測(cè)定.第2部分:波長色散的X射線光譜分析法(XRF)

DIN EN 16424:2015-03廢物表征 便攜式X射線熒光儀器元素成分篩選方法

DIN EN ISO 8754:2003石油產(chǎn)品.硫含量的測(cè)定.能量分散X射線熒光光譜法

DIN 55912-2 Bb.2:1999顏料.二氧化鈦顏料.分析方法.用X射線熒光分析法制定校準(zhǔn)曲線

DIN 51829:2013-03石油產(chǎn)品 潤滑脂中添加劑和磨損元素的測(cè)定 波長色散 X 射線熒光光譜法分析

DIN ISO 15632:2022-09微束分析 用于能量色散 X 射線光譜儀規(guī)格和檢查的選定儀器性能參數(shù)

DIN 51391-2:1994-03潤滑劑測(cè)試；添加元素含量的測(cè)定；通過波長色散 X 射線光譜 (XRS) 進(jìn)行分析

DIN 51379-2:1990潤滑劑檢驗(yàn).潤滑油中鉬含量的測(cè)定.第2部分:波長頻散X射線光譜測(cè)定分析法

DIN 55912-2 Bb.1:1999顏料.二氧化鈦顏料.分析方法.用X射線熒光分析測(cè)定次要成分的實(shí)例

國家質(zhì)檢總局，關(guān)于特征x射線光譜 分析的標(biāo)準(zhǔn)

GB/T 42360-2023表面化學(xué)分析水的全反射X射線熒光光譜分析

GB/T 19500-2004X射線光電子能譜分析方法通則

GB/T 30704-2014表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜 分析指南

GB/T 16597-1996冶金產(chǎn)品分析方法X射線熒光光譜法通則

GB/Z 42520-2023鐵礦石X射線熒光光譜分析實(shí)驗(yàn)室操作指南

GB/T 29513-2013含鐵塵泥 X射線熒光光譜化學(xué)分析 熔鑄玻璃片法

GB/T 21114-2007耐火材料 X射線熒光光譜化學(xué)分析 - 熔鑄玻璃片法

GB/T 19140-2003水泥X射線熒光分析通則

GB/T 8156.10-1987工業(yè)用氟化鋁中硫量的測(cè)定X射線熒光光譜分析法

GB/Z 32490-2016表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜 確定本底的程序

GB/T 17416.2-1998鋯礦石化學(xué)分析方法X射線熒光光譜法測(cè)定鋯量和鉿量

GB/T 22571-2008表面化學(xué)分析.X射線光電子能譜儀.能量標(biāo)尺的校準(zhǔn)

GB 16355-1996X射線衍射儀和熒光分析儀放射防護(hù)標(biāo)準(zhǔn)

GB/T 21006-2007表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜儀和俄歇電子能譜儀 強(qiáng)度標(biāo)的線性

GB/T 28632-2012表面化學(xué)分析.俄歇電子能譜和X射線光電子能譜.橫向分辨率測(cè)定

GB/T 14506.28-1993硅酸鹽巖石化學(xué)分析方法X射線熒光光譜法測(cè)定主、次元素量

GB/T 14849.5-2010工業(yè)硅化學(xué)分析方法.第5部分：元素含量的測(cè)定.X射線熒光光譜法

GB/T 17362-2008黃金制品的掃描電鏡X射線能譜分析方法

GB/T 17362-1998黃金飾品的掃描電鏡X射線能譜分析方法

GB/T 28892-2012表面化學(xué)分析.X射線光電子能譜.選擇儀器性能參數(shù)的表述

GB/T 28633-2012表面化學(xué)分析.X射線光電子能譜.強(qiáng)度標(biāo)的重復(fù)性和一致性

GB/T 14849.5-2014工業(yè)硅化學(xué)分析方法 第5部分:雜質(zhì)元素含量的測(cè)定 X射線熒光光譜法

GB/T 17359-1998電子探針和掃描電鏡X射線能譜定量分析通則

GB/T 18873-2002生物薄試樣的透射電子顯微鏡-X射線能譜定量分析通則

GB/T 18873-2008生物薄試樣的透射電子顯微鏡-X射線能譜定量分析通則

GB/T 25185-2010表面化學(xué)分析.X射線光電子能譜.荷電控制和荷電校正方法的報(bào)告

GB/T 29556-2013表面化學(xué)分析 俄歇電子能譜和X射線光電子能譜 橫向分辨率、分析面積和分析器所能檢測(cè)到的樣品面積的測(cè)定

GB/T 17507-2008透射電子顯微鏡X射線能譜分析生物薄標(biāo)樣的通用技術(shù)條件

GB/T 17507-1998電子顯微鏡X射線能譜分析生物薄標(biāo)樣通用技術(shù)條件

GB/T 20726-2015微束分析電子探針顯微分析X射線能譜儀主要性能參數(shù)及核查方法

GB/T 30701-2014表面化學(xué)分析 硅片工作標(biāo)準(zhǔn)樣品表面元素的化學(xué)收集方法和全反射X射線熒光光譜法(TXRF)測(cè)定

GB/T 6609.30-2009氧化鋁化學(xué)分析方法和物理性能測(cè)定方法.第30部分:X射線熒光光譜法測(cè)定微量元素含量

廣東省標(biāo)準(zhǔn)，關(guān)于特征x射線光譜 分析的標(biāo)準(zhǔn)

DB44/T 1602-2015石材成分分析方法--X射線熒光光譜法

DB44/T 1216-2013利用掃描電子顯微術(shù)和X射線能譜法表征石墨烯的特性

DB44/T 1215-2013利用掃描電子顯微術(shù)和X射線能譜法表征單壁碳納米管的特性

DB44/T 1826-2016合金飾品成分的測(cè)定 能量色散X射線熒光光譜法

英國標(biāo)準(zhǔn)學(xué)會(huì)，關(guān)于特征x射線光譜 分析的標(biāo)準(zhǔn)

BS ISO 13424:2013表面化學(xué)分析.X射線光譜.薄膜分析報(bào)表

BS ISO 16129:2012表面化學(xué)分析.X射線光電子能光譜學(xué).X射線光電子能譜儀日常性能評(píng)估規(guī)程

BS ISO 10810:2010表面化學(xué)分析.X射線光電子能譜法.分析指南

BS ISO 16129:2018跟蹤更改 表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜 X 射線光電子能譜儀日常性能評(píng)估程序

PD ISO/TS 18507:2015表面化學(xué)分析 全反射 X 射線熒光光譜在生物和環(huán)境分析中的應(yīng)用

BS ISO 10810:2019跟蹤更改 表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜 分析指南

BS ISO 18554:2016表面化學(xué)分析. 電子光譜. 采用X射線光電子能譜分析法對(duì)材料進(jìn)行分析的X射線的意外降解的識(shí)別, 評(píng)估和修正程序

BS PD ISO/TS 18507:2015表面化學(xué)分析. 全反射X射線熒光光譜法在生物和環(huán)境分析中的使用

BS ISO 20289:2018表面化學(xué)分析 水的全反射X射線熒光分析

BS ISO 18516:2006表面化學(xué)分析.俄歇電子光譜法和X射線光電子光譜法.橫向分辨率測(cè)定

BS ISO 22863-4:2021煙花 特定化學(xué)物質(zhì)測(cè)定的試驗(yàn)方法 X射線熒光光譜法分析鉛和鉛化合物

BS DD ISO/TS 10798:2011毫微技術(shù).利用掃描電子顯微鏡和能量色散X射線光譜法分析得出單層碳納米管的表示特征

BS ISO 21270:2005表面化學(xué)分析.X射線光電子和俄歇電子光譜儀.強(qiáng)度標(biāo)的線性度

DD ISO/TS 10798:2011納米技術(shù) 使用掃描電子顯微鏡和能量色散 X 射線光譜分析表征單壁碳納米管

BS ISO 14701:2011表面化學(xué)分析.X射線光電子能譜學(xué).二氧化硅厚度測(cè)量

BS ISO 15470:2005表面化學(xué)分析.X射線光電光譜法.選定的儀器性能參數(shù)的描述

BS ISO 15470:2017表面化學(xué)分析.X射線光電光譜法.選定的儀器性能參數(shù)的描述

BS ISO 21270:2004表面化學(xué)分析 X 射線光電子能譜儀和俄歇電子能譜儀 強(qiáng)度尺度的線性

BS ISO 16243:2011表面化學(xué)分析.X射線光電子能譜術(shù)(XPS)的記錄和報(bào)告數(shù)據(jù)

BS EN 10315:2006臨近技術(shù)使用的X射線熒光光譜法(XRF)高合金鋼分析的常規(guī)方法

BS ISO 24237:2005表面化學(xué)分析.X射線光電子光譜學(xué).強(qiáng)度標(biāo)的可重復(fù)性和穩(wěn)定性

BS EN 10315:2006(2010)臨近技術(shù)使用的X射線熒光光譜法(XRF)高合金鋼分析的常規(guī)方法

BS ISO 19830:2015表面化學(xué)分析. 電子能譜. X射線光電子能譜峰擬合的*低報(bào)告要求

BS ISO 22489:2007微光束分析.電子探針微量分析.用波長色散X-射線光譜測(cè)量法作塊狀樣品的定量點(diǎn)分析

BS ISO 22489:2016微光束分析.電子探針微量分析.用波長色散X-射線光譜測(cè)量法作塊狀樣品的定量點(diǎn)分析

BS ISO 17470:2014微束分析. 電子探針顯微分析. 采用波長分散X射線光譜測(cè)定法的定性點(diǎn)分析指南

BS ISO 19318:2005表面化學(xué)分析.X射線光電光譜法.電荷控制和電荷校正方法的報(bào)告

BS ISO 14706:2000表面化學(xué)分析.采用全反射X射線熒光(TXRF)光譜法對(duì)硅片表面元素污染物的測(cè)定

BS ISO 14706:2014表面化學(xué)分析.采用全反射X射線熒光(TXRF)光譜法對(duì)硅片表面元素污染物的測(cè)定

BS ISO 14706:2001表面化學(xué)分析 采用全反射X射線熒光（TXRF）光譜法對(duì)硅片表面元素污染物的測(cè)定

BS ISO 14701:2018跟蹤更改 表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜 氧化硅厚度的測(cè)量

BS ISO 15472:2010表面化學(xué)分析.X射線光電子分光計(jì).能量等級(jí)的校準(zhǔn)

BS ISO 29581-2:2010水泥.試驗(yàn)方法.用X射線熒光法的化學(xué)分析

19/30401682 DCBS ISO 22863-4 煙花 特定化學(xué)物質(zhì)測(cè)定的試驗(yàn)方法 第4部分：X 射線熒光光譜法(XRF)分析鉛和鉛化合物

BS 1902-9.2:1987耐火材料試驗(yàn)方法.第9.2部分:儀器化學(xué)分析法.第2節(jié):用X射線熒光光譜法分析硅質(zhì)耐火材料

BS ISO 17109:2022表面化學(xué)分析 深度剖析 使用單層和多層薄膜的 X 射線光電子能譜、俄歇電子能譜和二次離子質(zhì)譜濺射深度分析中濺射速率的測(cè)定方法...

21/30433862 DCBS ISO 17109 AMD1 表面化學(xué)分析 深度剖析 使用單一和……的 X 射線光電子能譜、俄歇電子能譜和二次離子質(zhì)譜濺射深度分析中濺射速率測(cè)定方法

BS 6043-2.4:2000鋁制造中使用的碳質(zhì)材料的取樣和測(cè)試方法 焦炭電極 X射線熒光光譜分析

BS ISO 18118:2005表面化學(xué)分析.俄歇電子光譜法和X射線光電子光譜法.同質(zhì)材料定量分析用實(shí)驗(yàn)室測(cè)定相對(duì)敏感性系數(shù)的使用指南

BS ISO 17109:2015表面化學(xué)分析. 深度剖析. 使用單層和多層薄膜測(cè)定X射線光電子能譜, 俄歇電子能譜以及二次離子質(zhì)譜法濺射深度剖析中濺射率的方法

BS ISO 19668:2017表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜 均質(zhì)材料中元素檢測(cè)限的估計(jì)和報(bào)告

BS ISO 20903:2011表面化學(xué)分析.俄歇電子能譜和X-射線光電光譜學(xué).測(cè)定峰強(qiáng)度的方法和報(bào)告結(jié)果要求的信息

BS EN ISO 21587-2:2007硅酸鋁耐熔制品的化學(xué)分析(可選擇X射線熒光法).濕化學(xué)分析

DD ENV 725-4-1994高技術(shù)陶瓷.陶瓷粉末試驗(yàn)方法.用X射線熒光光譜分析法對(duì)氮化鋁氧含量的測(cè)定

BS EN 16424:2014廢棄物的特性描述. 使用便攜式X射線熒光光譜儀對(duì)元素成分進(jìn)行的篩選方法

BS EN 725-4:2006高級(jí)工業(yè)陶瓷.陶瓷粉末試驗(yàn)方法.用X射線熒光光譜(XRF)分析法測(cè)定氮化鋁中氧含量

BS ISO 15632:2012微束分析. 用于電子探針顯微分析的能量分散X射線光譜儀規(guī)范和檢查用所選儀器性能參數(shù)

BS ISO 15632:2021微束分析 用于電子探針顯微分析的能量分散X射線光譜儀規(guī)范和檢查用所選儀器性能參數(shù)

PD ISO/TR 12389:2009水泥測(cè)試方法 測(cè)試計(jì)劃的報(bào)告 X 射線熒光化學(xué)分析

BS EN ISO 10058-3:2009菱鎂礦和白云石耐火制品的化學(xué)分析（可選X射線熒光法） 火焰原子吸收光譜法（FAAS）和感應(yīng)耦合等離子體發(fā)射光譜法（ICP-AES）

BS EN ISO 10058-3:2008菱鎂礦和白云石耐火制品的化學(xué)分析(可選X射線熒光法).火焰原子吸收光譜法(FAAS)和感應(yīng)耦合等離子體發(fā)射光譜法(ICP-AES)

行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-電力，關(guān)于特征x射線光譜 分析的標(biāo)準(zhǔn)

DL/T 1151.22-2012火力發(fā)電廠垢和腐蝕產(chǎn)物分析方法.第22部分：X-射線熒光光譜和X-射線衍射分析

國際標(biāo)準(zhǔn)化組織，關(guān)于特征x射線光譜 分析的標(biāo)準(zhǔn)

ISO 10810:2019表面化學(xué)分析 - X射線光電子能譜分析指南

ISO 16129:2012表面化學(xué)分析.X射線光電子能光譜學(xué).X射線光電子能譜儀日常性能評(píng)估規(guī)程

ISO 10810:2010表面化學(xué)分析.X射線光電子能譜學(xué).分析導(dǎo)則

ISO 16129:2018表面化學(xué)分析 - X射線光電子能譜 - 評(píng)估X射線光電子能譜儀日常性能的方法

ISO 18554:2016表面化學(xué)分析. 電子光譜. 采用X射線光電子能譜分析法對(duì)材料進(jìn)行分析的X射線的意外降解的識(shí)別, 評(píng)估和修正程序

ISO/TS 18507:2015表面化學(xué)分析. 全反射X射線熒光光譜法在生物和環(huán)境分析中的使用

ISO/TR 18392:2005表面化學(xué)分析.X射線光電子光譜學(xué).背景測(cè)定程序

ISO 13424:2013表面化學(xué)分析——X射線光電子能譜；薄膜分析結(jié)果的報(bào)告

ISO/TS 10798:2011納米技術(shù).使用掃描電鏡與X射線能譜分析的單臂碳納米管的特征描述

ISO 20289:2018表面化學(xué)分析.水的全反射X射線熒光分析

ISO 17470:2004微光束分析.電子探針顯微分析.波長分散X射線光譜法分析質(zhì)量點(diǎn)的指南

ISO 15472:2010表面化學(xué)分析.X射線光電譜儀.能量刻度表校準(zhǔn)

ISO 15472:2001表面化學(xué)分析X射線光電譜儀能量刻度表校準(zhǔn)

ISO 18516:2006表面化學(xué)分析.俄歇電子光譜法和X射線光電子光譜法.橫向分辨率測(cè)定

ISO/CD TR 18392:2023表面化學(xué)分析 X 射線光電子能譜 確定背景的程序

ISO 14701:2018表面化學(xué)分析 - X射線光電子能譜 - 氧化硅厚度的測(cè)量

ISO 17054:2010用X射線熒光光譜法(XRF)近似技術(shù)分析高合金鋼的常規(guī)方法

ISO 21270:2004表面化學(xué)分析X射線光電子能譜儀和俄歇電子能譜儀.強(qiáng)度標(biāo)的線性

ISO 14701:2011表面化學(xué)分析.X射線光電子能譜.二氧化硅厚度的測(cè)量

ISO 22489:2006微光束分析.電子探針微量分析.運(yùn)用波長色散X射線光譜測(cè)量法定量分析塊狀樣品

ISO 22489:2016微光束分析.電子探針微量分析.運(yùn)用波長色散X射線光譜測(cè)量法定量分析塊狀樣品

ISO 15470:2004表面化學(xué)分析.X射線光電光譜法.選定的儀器性能參數(shù)的描述

ISO 24237:2005表面化學(xué)分析.X射線光電子光譜法.強(qiáng)度的可重復(fù)性和穩(wěn)定性

ISO 17470:2014微束分析. 電子探針微量分析. 用波長色散X射線光譜測(cè)定法定性點(diǎn)分析指南

ISO 15470:2017表面化學(xué)分析. X射線光電子能譜. 選擇儀器性能參數(shù)說明

ISO 16243:2011表面化學(xué)分析.X射線光電子能譜術(shù)(XPS)的記錄和報(bào)告數(shù)據(jù)

ISO 19830:2015表面化學(xué)分析. 電子能譜. X射線光電子能譜峰擬合的*低報(bào)告要求

ISO 22863-4:2021煙花.特定化學(xué)物質(zhì)測(cè)定的試驗(yàn)方法.第4部分：用X射線熒光光譜法（XRF）分析鉛和鉛化合物

ISO 19318:2004表面化學(xué)分析.X射線光電光譜法.電荷控制和電荷校正方法的報(bào)告

ISO 19318:2021表面化學(xué)分析. X射線光電光譜法. 電荷控制和電荷校正方法的報(bào)告

ISO/TR 19319:2003表面化學(xué)分析.俄歇電子能譜和X射線光電子能譜.分析員對(duì)橫向分辨率、分析區(qū)域和樣品區(qū)域的目視檢測(cè)

ISO 18118:2004表面化學(xué)分析.俄歇電子光譜法和X射線光電子光譜法.同質(zhì)材料定量分析用實(shí)驗(yàn)室測(cè)定相對(duì)敏感性因子的使用指南

ISO 18118:2015表面化學(xué)分析.俄歇電子光譜法和X射線光電子光譜法.同質(zhì)材料定量分析用實(shí)驗(yàn)室測(cè)定相對(duì)敏感性因子的使用指南

ISO 17109:2015表面化學(xué)分析. 深度剖析. 使用單層和多層薄膜測(cè)定X射線光電子能譜, 俄歇電子能譜以及二次離子質(zhì)譜法濺射深度剖析中濺射率的方法

ISO 8754:2003石油產(chǎn)品.硫含量的測(cè)定.能量分散X射線熒光光譜測(cè)定法

ISO 9167-2:1994菜籽 芥子油甙含量的測(cè)定 第2部分:用X-射線熒光光譜法

ISO 29581-2:2010水泥.試驗(yàn)方法.第2部分:用X射線熒光法的化學(xué)分析

ISO/CD 5861表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜 石英晶體單色Al Ka XPS儀器強(qiáng)度校準(zhǔn)方法

ISO/DIS 5861:2023表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜 石英晶體單色 Al Kα XPS 儀器強(qiáng)度校準(zhǔn)方法

ISO/DTS 9516-2:1976鐵礦石 X 射線熒光光譜法測(cè)定各種元素 第 2 部分：簡(jiǎn)化程序

ISO 20903:2006表面化學(xué)分析.螺旋電子光譜法和X-射線光電光譜學(xué).報(bào)告結(jié)果時(shí)測(cè)定峰強(qiáng)度的方法和必要信息的使用方法

ISO 12677:2011用X射線熒光對(duì)耐火產(chǎn)品(XRF)進(jìn)行化學(xué)分析.熔鑄珠法

ISO 15632:2021微光束分析.帶半導(dǎo)體探測(cè)器能量發(fā)散X射線分光儀的儀器規(guī)范

ISO 15632:2012微光束分析.帶半導(dǎo)體探測(cè)器能量發(fā)散X射線分光儀的儀器規(guī)范

ISO 19668:2017表面化學(xué)分析.X射線光電子能譜學(xué).均勻材料中元素檢測(cè)極限的估算和報(bào)告

ISO 20903:2019表面化學(xué)分析 - 俄歇電子光譜和X射線光電子能譜 - 用于確定峰值強(qiáng)度的方法和報(bào)告結(jié)果時(shí)所需的信息

IN-BIS，關(guān)于特征x射線光譜 分析的標(biāo)準(zhǔn)

IS 12803-1989X射線熒光光譜儀分析水硬性水泥的方法

國家市場(chǎng)監(jiān)督管理總局、中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)，關(guān)于特征x射線光譜 分析的標(biāo)準(zhǔn)

GB/T 16597-2019冶金產(chǎn)品分析方法X射線熒光光譜法通則

GB/T 21114-2019耐火材料X射線熒光光譜化學(xué)分析熔鑄玻璃片法

GB/T 36401-2018表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜 薄膜分析結(jié)果的報(bào)告

GB/T 40110-2021表面化學(xué)分析全反射X射線熒光光譜法（TXRF）測(cè)定硅片表面元素污染

GB/T 41073-2021表面化學(xué)分析 電子能譜 X射線光電子能譜峰擬合報(bào)告的基本要求

GB/T 41064-2021表面化學(xué)分析 深度剖析 用單層和多層薄膜測(cè)定X射線光電子能譜、俄歇電子能譜和二次離子質(zhì)譜中深度剖析濺射速率的方法

GB/T 3884.21-2018銅精礦化學(xué)分析方法 第21部分：銅、硫、鉛、鋅、鐵、鋁、鈣、鎂、錳量的測(cè)定 波長色散X射線熒光光譜法

GB/T 8151.22-2020鋅精礦化學(xué)分析方法 第22部分：鋅、銅、鉛、鐵、鋁、鈣和鎂含量的測(cè)定波長色散X射線熒光光譜法

法國標(biāo)準(zhǔn)化協(xié)會(huì)，關(guān)于特征x射線光譜 分析的標(biāo)準(zhǔn)

NF X21-071:2011表面化學(xué)分析.X射線光電子能譜法.分析用導(dǎo)則

NF A11-103:1977鈮鐵合金的化學(xué)分析.X射線熒光光譜法測(cè)定鈮

NF X21-003:2006微光束分析.電子探針顯微分析.波長分布X射線光譜測(cè)量法定量分析指南

NF X21-055:2006表面化學(xué)分析.X射線光電譜儀.能量刻度表校準(zhǔn)

XP A06-379-1999波長散射性X射線熒光光譜分析的標(biāo)準(zhǔn)常規(guī)用法的制定指南

NF X21-061:2008表面化學(xué)分析.螺旋電子光譜法和X射線光電子光譜法.橫向分辨率測(cè)定

FD T16-203:2011納米技術(shù) 使用掃描電子顯微鏡和能量色散 X 射線光譜分析法表征單壁碳納米管

NF EN 16424:2014廢物表征-使用便攜式X射線熒光分析儀測(cè)定元素成分的篩選方法

NF X21-073*NF ISO 16243:2012表面化學(xué)分析.X射線光電子能譜術(shù)(XPS)的記錄和報(bào)告數(shù)據(jù)

NF ISO 16243:2012表面化學(xué)分析 X 射線光電子能譜(XPS)中的數(shù)據(jù)記錄和報(bào)告

FD A06-326*FD CEN/TR 10354:2011黑色金屬材料的化學(xué)分析 硅鐵的分析 X射線熒光光譜法測(cè)定硅鐵中的Si和Al

NF S57-037-4*NF ISO 22863-4:2021煙花 特定化學(xué)物質(zhì)測(cè)定的試驗(yàn)方法 第4部分：用 X 射線熒光光譜法（XRF）分析鉛和鉛化合物

NF ISO 22863-4:2021煙花.特定化學(xué)物質(zhì)測(cè)定的試驗(yàn)方法.第4部分：用X射線熒光光譜法（XRF）分析鉛及其化合物

NF A06-377*NF EN 10315:2006用帶新技術(shù)的X射線熒光光譜測(cè)定法(XRF)分析高合金鋼的通用方法

NF X21-006:2007微光束分析.電子探針微量分析.用波長色散X-射線光譜測(cè)量法進(jìn)行塊狀樣品的定量點(diǎn)分析

NF EN ISO 12677:2011X射線熒光法耐火材料化學(xué)分析-熔珠法

NF EN 15309:2007廢物和土壤的表征 - 通過 X 射線熒光測(cè)定元素成分

NF M07-053*NF EN ISO 8754:2003石油產(chǎn)品 硫含量測(cè)定 能量分散X射線熒光光譜法

NF EN ISO 21587-3:2007鋁硅酸鹽耐火制品的化學(xué)分析（X射線熒光法的替代方法）-第3部分：原子吸收光譜法（AAS）和等離子體原子發(fā)射光譜法...

NF M07-095*NF EN ISO 14597:1999石油產(chǎn)品 釩和鎳含量的測(cè)定 X射線熒光分析法

NF M60-302:1996廢物.用γ射線分光光譜法進(jìn)行無損測(cè)量.表征鑒定和檢驗(yàn)用封裝廢物中放射性核素活性的γ射線分光光譜法無損測(cè)量

NF EN 15063-2:2006銅和銅合金 波長色散 X 射線熒光(XRF)光譜分析法測(cè)定主元素和雜質(zhì) 第2部分：常規(guī)方法

NF X30-495*NF EN 16424:2014廢棄物的特性描述. 使用便攜式X射線熒光光譜儀對(duì)元素成分進(jìn)行的篩選方法

NF V03-918-2:1997油菜子.葡萄糖堿含量測(cè)定.第2部分:X射線熒光光譜測(cè)定法

NF X21-008:2012微光束分析.帶半導(dǎo)體探測(cè)器能量發(fā)散X射線分光儀的儀器規(guī)格

NF A09-230-3*NF EN ISO 16526-3:2020無損檢測(cè) X 射線管電壓的測(cè)量和評(píng)估 第3部分：光譜法

國家計(jì)量技術(shù)規(guī)范，關(guān)于特征x射線光譜 分析的標(biāo)準(zhǔn)

JJF 1133-2005X射線熒光光譜法黃金含量分析儀校準(zhǔn)規(guī)范

行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-商品檢驗(yàn)，關(guān)于特征x射線光譜 分析的標(biāo)準(zhǔn)

SN/T 2079-2008不銹鋼及合金鋼分析方法X-射線熒光光譜法

SN/T 2764-2011螢石中多種成分的測(cè)定 X射線熒光光譜法

SN/T 3318.2-2015鋯英砂化學(xué)分析方法 第2部分:鋯、鐵、鈦含量的測(cè)定 波長色散X射線熒光光譜法

SN/T 2763.1-2011紅土鎳礦中多種成分的測(cè)定 第1部分：X射線熒光光譜法

SN/T 3322.1-2012進(jìn)出口鈦精礦化學(xué)分析方法 第1部分：主次成分的測(cè)定 波長色散X射線熒光光譜法

SN/T 3321.3-2015石灰石和白云石分析方法 第3部分:主次成分含量的測(cè)定 波長色散X射線熒光光譜法

SN/T 2696-2010煤灰和焦炭灰成分中主、次元素的測(cè)定X射線熒光光譜法

行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-機(jī)械，關(guān)于特征x射線光譜 分析的標(biāo)準(zhǔn)

JB/T 9401-1999側(cè)窗熒光分析X射線管

JB/T 8425-1996鐵基噴涂粉末中鉻、鎳、鉬和釩的X射線熒光光譜分析標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法

工業(yè)和信息化部/國家能源局，關(guān)于特征x射線光譜 分析的標(biāo)準(zhǔn)

JB/T 12962.2-2016能量色散X射線熒光光譜儀 第2部分：元素分析儀

JB/T 12962.3-2016能量色散X射線熒光光譜儀 第3部分：鍍層厚度分析儀

JB/T 12962.1-2016能量色散X射線熒光光譜儀 第1部分：通用技術(shù)

澳大利亞標(biāo)準(zhǔn)協(xié)會(huì)，關(guān)于特征x射線光譜 分析的標(biāo)準(zhǔn)

AS 4392.1:1996重礦砂．波長色散X射線熒光光譜法分析．鈦礦砂

AS 4392.2:1997重礦砂．波長色散X射線熒光光譜法分析．誥石材料

AS 4392.1:1996/Amdt 2:1999重礦砂 波長色散 X 射線熒光光譜法分析 含鈦礦砂

AS 4392.1:1996/Amdt 1:1996重礦砂 波長色散 X 射線熒光光譜法分析 含鈦礦砂

AS ISO 15472:2006表面化學(xué)分析．X射線光電子光譜法．能量標(biāo)度的校準(zhǔn)

AS ISO 15470:2006表面化學(xué)分析．X射線光電子光譜法．選定儀器性能參數(shù)的描述

AS ISO 24237:2006表面化學(xué)分析．X射線光電子光譜學(xué)．強(qiáng)度標(biāo)的可重復(fù)性和恒定性

AS ISO 19319:2006表面化學(xué)分析．Augur電子能譜法和X射線光電子光譜法．分析員對(duì)橫向分辨率；分析區(qū)域和樣品區(qū)域的目視檢測(cè)

AS ISO 19318:2006表面化學(xué)分析．X射線光電子光譜學(xué)．電荷控制和電荷調(diào)整用報(bào)告法

AS ISO 18118:2006表面化學(xué)分析．俄歇電子能譜法和X射線光電子光譜法．均質(zhì)材料定量分析中實(shí)驗(yàn)測(cè)定的相對(duì)靈敏系數(shù)使用指南

行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-建材，關(guān)于特征x射線光譜 分析的標(biāo)準(zhǔn)

JC/T 1085-2008水泥用X射線熒光分析儀

行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-核工業(yè)，關(guān)于特征x射線光譜 分析的標(biāo)準(zhǔn)

EJ/T 1067-1998X射線熒光分析用镅241源

EJ/T 1068-1998X射線熒光分析用钚238源

EJ/T 805-1993X射線熒光分析用低能光子源

EJ/T 767-1993放射源激發(fā)的x射線熒光分析儀

EJ/T 684-1992便攜式源激發(fā)X射線熒光分析儀

EJ/T 684-2016便攜式能量色散X射線熒光分析儀

EJ/T 1212.3-2008燒結(jié)氧化釓-二氧化鈾芯塊分析方法.第3部分:波長色散x射線熒光光譜法測(cè)定氧化釓含量

行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-有色金屬，關(guān)于特征x射線光譜 分析的標(biāo)準(zhǔn)

YS/T 483-2005銅及銅合金分析方法 X射線熒光光譜法 (波長色散型)

YS/T 703-2014石灰石化學(xué)分析方法元素含量的測(cè)定 X射線熒光光譜法

YS/T 575.23-2009鋁土礦石化學(xué)分析方法.第23部分:X射線熒光光譜法測(cè)定元素含量

YS/T 869-20134A沸石化學(xué)成分分析方法 X射線熒光法

YS/T 806-2012鋁及鋁合金中稀土分析方法.X-射線熒光光譜法測(cè)定.鑭、鈰、鐠、釹、釤含量

YS/T 273.14-2008冰晶石化學(xué)分析方法和物理性能測(cè)定方法 14部分:X射線熒光光譜分析法測(cè)定元素含量

YS/T 581.10-2006氟化鋁化學(xué)分析方法和物理性能測(cè)定方法　第10部分：X射線熒光光譜分析法測(cè)定硫含量

YS/T 273.11-2006冰晶石化學(xué)分析方法和物理性能測(cè)定方法.第11部分：x射線熒光光譜分析法測(cè)定硫含量

YS/T 63.16-2006鋁用炭素材料檢測(cè)方法　第16部分：微量元素的測(cè)定X射線熒光光譜分析方法

YS/T 581.16-2008氟化鋁化學(xué)分析方法和物理性能測(cè)定方法 第16部分 X射線熒光光譜分析法測(cè)定元素含量

YS/T 739-2010鋁電解質(zhì)分子比及主要成分的測(cè)定X射線熒光光譜法

YS/T 581.18-2012氟化鋁化學(xué)分析方法和物理性能測(cè)定方法 第18部分：X射線熒光光譜分析（壓片）法測(cè)定元素含量

YS/T 273.15-2012冰晶石化學(xué)分析方法和物理性能測(cè)定方法 第15部分：X射線熒光光譜分析（壓片）法測(cè)定元素含量

YS/T 63.16-2019鋁用炭素材料檢測(cè)方法 第16部分：元素含量的測(cè)定 波長色散X-射線熒光光譜分析方法

YS/T 820.19-2012紅土鎳礦化學(xué)分析方法.第19部分：鋁、鉻、鐵、鎂、錳、鎳和硅量的測(cè)定.能量色散X射線熒光光譜法

KR-KS，關(guān)于特征x射線光譜 分析的標(biāo)準(zhǔn)

KS D ISO 17054-2018通過X射線熒光光譜法（XRF）分析高合金鋼的常規(guī)方法

KS D 1655-2008(2019)(英文版)鋼鐵的X射線熒光分析方法

KS D ISO 15472-2003(2023)表面化學(xué)分析-X射線光電子能譜儀-能量刻度的校準(zhǔn)

KS D ISO 17054-2018(2023)用近場(chǎng)技術(shù)用X射線熒光光譜法（XRF）分析高合金鋼的常規(guī)方法

KS D ISO 22489-2018微束分析 - 電子探針微量分析 - 使用波長色散X射線光譜法的批量樣品的定量點(diǎn)分析

KS D ISO 22489-2018(2023)微束分析.電子探針微量分析.用波長色散x射線光譜法對(duì)大塊樣品進(jìn)行定量點(diǎn)分析

KS D ISO 14706-2003(2023)表面化學(xué)分析-全反射X射線熒光分析儀測(cè)定硅晶片表面元素雜質(zhì)

KS M ISO 14597-2003(2023)石油產(chǎn)品-釩和鎳含量測(cè)定-波長-分散X射線熒光光譜法

KS M ISO 15597-2003(2023)石油及相關(guān)產(chǎn)品-氯和溴含量測(cè)定-波長-分散X射線熒光光譜法

工業(yè)和信息化部，關(guān)于特征x射線光譜 分析的標(biāo)準(zhǔn)

YS/T 483-2022銅及銅合金分析方法 X射線熒光光譜法 （波長色散型）

YS/T 1033-2015干式防滲料元素含量的測(cè)定 X射線熒光光譜分析法

YS/T 806-2020鋁及鋁合金化學(xué)分析方法 元素含量的測(cè)定 X射線熒光光譜法

YS/T 575.23-2021鋁土礦石化學(xué)分析方法 第23部分：元素含量的測(cè)定 X射線熒光光譜法

YS/T 581.15-2012氟化鋁化學(xué)分析方法和物理性能測(cè)定方法 第15部分：X射線熒光光譜分析（壓片）法測(cè)定元素含量

YB/T 4144-2019建立和控制原子發(fā)射光譜化學(xué)分析曲線規(guī)則

YS/T 1340-2019鉛及鉛合金化學(xué)分析方法 錫、銻、砷、鉍、銅、鎘、鈣、銀含量的測(cè)定波長色散X射線熒光光譜法

歐洲標(biāo)準(zhǔn)化委員會(huì)，關(guān)于特征x射線光譜 分析的標(biāo)準(zhǔn)

CEN/TR 10354:2011黑色金屬材料化學(xué)分析 硅鐵分析 X射線熒光光譜法測(cè)定硅和鋁

PD CEN/TR 10354:2011黑色金屬材料的化學(xué)分析 硅鐵的分析 X射線熒光光譜法測(cè)定硅和鋁

EN 10315:2006使用臨近技術(shù)用X射線熒光光譜法(XRF)分析高合金鋼的常規(guī)法

CEN/TR 16176:2011廢棄物表征 現(xiàn)場(chǎng)驗(yàn)證用 X 射線熒光光譜法篩選元素組成的方法

EN ISO 9167-2:1997菜籽 芥子油甙含量的測(cè)定 第2部分:用X-射線熒光光譜法

丹麥標(biāo)準(zhǔn)化協(xié)會(huì)，關(guān)于特征x射線光譜 分析的標(biāo)準(zhǔn)

DS/CEN/TR 10354:2012黑色金屬材料的化學(xué)分析 硅鐵分析 X射線熒光光譜法測(cè)定Si和Al

DS/ISO/TS 10798:2011納米技術(shù) 使用掃描電子顯微鏡和能量色散 X 射線光譜分析法表征單壁碳納米管

DS/ISO 22863-4:2021煙花《特定化學(xué)物質(zhì)測(cè)定試驗(yàn)方法》第4部分：X射線熒光光譜法（XRF）分析鉛及鉛化合物

DS/CEN/TR 16176:2012廢棄物表征 現(xiàn)場(chǎng)驗(yàn)證用 X 射線熒光光譜法篩選元素組成的方法

DS/EN 10315:2006采用近旁技術(shù)的 X 射線熒光光譜法（XRF）分析高合金鋼的常規(guī)方法

DS/EN 15485:2007汽油調(diào)合組分乙醇硫含量的測(cè)定波長色散X射線熒光光譜法

DS/EN 12544-3:2002無損檢測(cè) X 射線管電壓的測(cè)量和評(píng)價(jià)第3部分：光譜法

美國國家標(biāo)準(zhǔn)學(xué)會(huì)，關(guān)于特征x射線光譜 分析的標(biāo)準(zhǔn)

ANSI N43.2-2001X射線衍射和熒光分析設(shè)備的輻射安全

ANSI/ASTM D6247:1998通過X射線熒光光譜法對(duì)聚烯烴中元素含量分析的試驗(yàn)方法

中國團(tuán)體標(biāo)準(zhǔn)，關(guān)于特征x射線光譜 分析的標(biāo)準(zhǔn)

T/CACE 064-2022煤氣化渣成分測(cè)定 X射線熒光光譜法

T/IMPCA 0001-2021化工裝置鋼鐵及其制品中合金元素 X 射線 熒光光譜分析方法

T/NAIA 0128-2022氫氧化鋁快速測(cè)定 X射線熒光光譜分析（壓片）法測(cè)定元素含量

T/CSTM 00026-2019二氧化鈦顏料中特定氧化物的測(cè)定X射線熒光光譜法

T/GMES 004-2018鉻鐵礦中多種成分的測(cè)定 X射線熒光光譜法（粉末壓片）

T/GMES 005-2018焊劑中多種成分的測(cè)定 X射線熒光光譜法（熔鑄玻璃片法）

T/CGWSTC 001-2022陶瓷原料中多種成分的測(cè)定 X 射線熒光光譜法（粉末壓片）

行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-化工，關(guān)于特征x射線光譜 分析的標(biāo)準(zhǔn)

HG/T 6150-2023潤滑油加氫異構(gòu)催化劑化學(xué)成分分析方法 X射線熒光光譜法

中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局、中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)，關(guān)于特征x射線光譜 分析的標(biāo)準(zhǔn)

GB/T 22571-2017表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜儀 能量標(biāo)尺的校準(zhǔn)

GB/T 36017-2018無損檢測(cè)儀器 X射線熒光分析管

GB/T 34534-2017焦炭 灰成分含量的測(cè)定 X射線熒光光譜法

GB/T 33502-2017表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜（XPS）數(shù)據(jù)記錄與報(bào)告的規(guī)范要求

GB/T 35734-2017便攜式管激發(fā)X射線熒光分析儀 分類、安全要求及其試驗(yàn)

地方標(biāo)準(zhǔn)，關(guān)于特征x射線光譜 分析的標(biāo)準(zhǔn)

CNS 11942.23-2000銅及銅合金之螢光X射線分析法

CNS 11942-23-2000銅及銅合金之熒光X射線分析法

CNS 12788-1990耐火磚及耐火墁料螢光Ｘ射線光譜分析法

CNS 14472-2000石油產(chǎn)品中硫含量測(cè)定法(能量分布式X-射線螢光光譜法)

衛(wèi)生部國家職業(yè)衛(wèi)生標(biāo)準(zhǔn)，關(guān)于特征x射線光譜 分析的標(biāo)準(zhǔn)

GBZ 115-2002X射線衍射和熒光分析儀衛(wèi)生防護(hù)標(biāo)準(zhǔn)

美國電氣電子工程師學(xué)會(huì)，關(guān)于特征x射線光譜 分析的標(biāo)準(zhǔn)

IEEE 759-1984半導(dǎo)體X射線能譜分析器的試驗(yàn)程序

未注明發(fā)布機(jī)構(gòu)，關(guān)于特征x射線光譜 分析的標(biāo)準(zhǔn)

BS ISO 21270:2004(2010)表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜儀和俄歇電子能譜儀 強(qiáng)度標(biāo)度線性度

BS ISO 18516:2006(2010)表面化學(xué)分析 俄歇電子能譜和X射線光電子能譜 橫向分辨率的測(cè)定

BS EN ISO 12677:2011(2014)X射線熒光（XRF）耐火制品化學(xué)分析——熔鑄珠法

BS EN 16424:2014(2015)廢物表征 便攜式X射線熒光儀器元素成分篩選方法

BS 6870-3:1989(1999)鋁礦石分析 第3部分：波長色散X射線熒光多元素分析方法

BS EN ISO 9167-2:1997(1999)油菜籽 芥子油苷含量的測(cè)定 第2部分：X射線熒光光譜法

國際電工委員會(huì)，關(guān)于特征x射線光譜 分析的標(biāo)準(zhǔn)

IEC 62495:2011核監(jiān)測(cè)儀表.利用微型X-射線管的便攜式X-射線熒光分析設(shè)備

立陶宛標(biāo)準(zhǔn)局，關(guān)于特征x射線光譜 分析的標(biāo)準(zhǔn)

LST EN 10315-2006采用近旁技術(shù)的 X 射線熒光光譜法（XRF）分析高合金鋼的常規(guī)方法

LST EN 15485-2007汽油調(diào)合組分乙醇硫含量的測(cè)定波長色散X射線熒光光譜法

LST EN 12544-3-2001無損檢測(cè) X 射線管電壓的測(cè)量和評(píng)價(jià)第3部分：光譜法

AENOR，關(guān)于特征x射線光譜 分析的標(biāo)準(zhǔn)

UNE-EN 10315:2007采用近旁技術(shù)的 X 射線熒光光譜法（XRF）分析高合金鋼的常規(guī)方法

UNE-EN 15485:2008汽油調(diào)合組分乙醇硫含量的測(cè)定波長色散X射線熒光光譜法

行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-電子，關(guān)于特征x射線光譜 分析的標(biāo)準(zhǔn)

SJ/T 10714-1996檢查X射線光電子能譜儀工作特性的標(biāo)準(zhǔn)方法

云南省地方標(biāo)準(zhǔn)，關(guān)于特征x射線光譜 分析的標(biāo)準(zhǔn)

DB53/T 639.7-2014直接還原鐵化學(xué)分析方法 第7部分：多元素的測(cè)定 X射線熒光光譜法

行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-地質(zhì)，關(guān)于特征x射線光譜 分析的標(biāo)準(zhǔn)

DZ/T 0370-2021便攜式X射線熒光現(xiàn)場(chǎng)分析技術(shù)規(guī)程

DZ/T 0279.10-2016區(qū)域地球化學(xué)樣品分析方法 第10部分：氯和溴量測(cè)定 粉末壓片——X射線熒光光譜法

行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-紡織，關(guān)于特征x射線光譜 分析的標(biāo)準(zhǔn)

FZ/T 01163-2022紡織品及其附件總鉛和總鎘含量的測(cè)定 X射線熒光光譜（XRF）分析法

行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-公共安全標(biāo)準(zhǔn)，關(guān)于特征x射線光譜 分析的標(biāo)準(zhǔn)

GA/T 1655-2019法庭科學(xué) 泥土元素成分檢驗(yàn) X射線熒光光譜法

GA/T 1654-2019法庭科學(xué) 紙張?jiān)爻煞謾z驗(yàn) 波長色散X射線熒光光譜法

行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-稀土，關(guān)于特征x射線光譜 分析的標(biāo)準(zhǔn)

XB/T 610.1-2007釤鈷1:5型永磁合金粉化學(xué)分析方法 釤、鈷量的測(cè)定 X-射線熒光光譜法

ES-UNE，關(guān)于特征x射線光譜 分析的標(biāo)準(zhǔn)

UNE 53934:2016塑料 X 射線熒光法分析聚合物材料中的元素

安徽省標(biāo)準(zhǔn)，關(guān)于特征x射線光譜 分析的標(biāo)準(zhǔn)

DB34/T 2127.2-2014區(qū)域地球化學(xué)調(diào)查樣品分析方法 第2部分：X 射線熒光光譜法多元素含量的測(cè)定

DB34/T 3368.1-2019印制電路板中有害物質(zhì)分析方法 第1部分：鉛、汞、鉻、鎘和溴的快速篩選 X 射線熒光光譜法

GOSTR，關(guān)于特征x射線光譜 分析的標(biāo)準(zhǔn)

PNST 507-2020納米技術(shù) 單壁碳納米管 使用透射電子顯微鏡和能量色散 X 射線光譜法進(jìn)行表征

PNST 508-2020納米技術(shù) 單壁碳納米管 通過掃描電子顯微鏡和能量色散 X 射線光譜法表征

GOST 32139-2019石油和石油制品 使用能量分散X射線熒光光譜法測(cè)定硫含量

VN-TCVN，關(guān)于特征x射線光譜 分析的標(biāo)準(zhǔn)

TCVN 3172-2008石油和石油產(chǎn)品.用能量分散X射線熒光光譜法測(cè)定硫磺

BE-NBN，關(guān)于特征x射線光譜 分析的標(biāo)準(zhǔn)

NBN-ISO 8754:1993石油產(chǎn)品．硫含量的測(cè)定．能量分散X射線熒光光譜測(cè)定法

PT-IPQ，關(guān)于特征x射線光譜 分析的標(biāo)準(zhǔn)

NP EN ISO 14596:2001石油制品．硫含量的測(cè)量，分散波長的X射線熒光光譜測(cè)定法

福建省地方標(biāo)準(zhǔn)，關(guān)于特征x射線光譜 分析的標(biāo)準(zhǔn)

DB35/T 110-2000油漆物證檢測(cè)電子探針和掃描電鏡X射線能譜分析方法

印度尼西亞標(biāo)準(zhǔn)，關(guān)于特征x射線光譜 分析的標(biāo)準(zhǔn)

SNI ISO 16526-3:2013無損檢測(cè) X 射線管電壓的測(cè)量和評(píng)價(jià)第3部分：光譜法

檢測(cè)流程步驟

溫馨提示：以上內(nèi)容僅供參考使用，更多檢測(cè)需求請(qǐng)咨詢客服。