探針?lè)z測(cè)報(bào)告如何辦理？檢測(cè)項(xiàng)目及標(biāo)準(zhǔn)有哪些？百檢第三方檢測(cè)機(jī)構(gòu)，嚴(yán)格按照探針?lè)z測(cè)相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行測(cè)試和評(píng)估。做檢測(cè)，找百檢。我們只做真實(shí)檢測(cè)。
涉及探針 法的標(biāo)準(zhǔn)有88條。
國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)分類中，探針 法涉及到金屬材料試驗(yàn)、水質(zhì)、絕緣流體、半導(dǎo)體材料、有色金屬、復(fù)合增強(qiáng)材料、電工器件、獸醫(yī)學(xué)、長(zhǎng)度和角度測(cè)量、無(wú)損檢測(cè)、陶瓷、半導(dǎo)體分立器件、試驗(yàn)條件和規(guī)程綜合、土質(zhì)、土壤學(xué)、食品試驗(yàn)和分析的一般方法、電磁兼容性(EMC)、道路車輛裝置、農(nóng)業(yè)和林業(yè)、消防、集成電路、微電子學(xué)、電子顯示器件。
在中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)分類中，探針 法涉及到金屬物理性能試驗(yàn)方法、水環(huán)境有毒害物質(zhì)分析方法、半金屬與半導(dǎo)體材料綜合、、電工合金零件、氧化物、單質(zhì)、陶瓷、玻璃綜合、特種陶瓷、電工材料和通用零件綜合、元素半導(dǎo)體材料、電阻器、質(zhì)譜儀、液譜儀、能譜儀及其聯(lián)用裝置、工程地質(zhì)、水文地質(zhì)勘察與巖土工程、金屬無(wú)損檢驗(yàn)方法。
國(guó)家市場(chǎng)監(jiān)督管理總局、中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)，關(guān)于探針 法的標(biāo)準(zhǔn)
GB/T 1551-2021硅單晶電阻率的測(cè)定 直排四探針?lè)ê椭绷鲀商结樂(lè)?/p>
GB/T 39978-2021納米技術(shù) 碳納米管粉體電阻率 四探針?lè)?/p>
法國(guó)標(biāo)準(zhǔn)化協(xié)會(huì)，關(guān)于探針 法的標(biāo)準(zhǔn)
NF T90-106*NF EN ISO 5814:2012水質(zhì)溶解氧的測(cè)定電工探針?lè)?/p>
NF ISO 17289:2014水質(zhì) 溶解氧投加量 光學(xué)探針?lè)?/p>
NF T90-106:1993水質(zhì).溶解氧的測(cè)定.電化學(xué)探針?lè)?/p>
NF EN ISO 5814:2012水質(zhì)溶解氧的測(cè)定電化學(xué)探針?lè)?/p>
XP P94-123:1999土壤：勘察和測(cè)試 - 鉆孔測(cè)井 - 中子探針?lè)?/p>
NF ISO 10573:1996土壤質(zhì)量非飽和帶含水量的測(cè)定深度中子探針?lè)?/p>
NF EN 61967-6:2003集成電路 - 電磁輻射測(cè)量，150 kHz 至 1 GHz - 第 6 部分：傳導(dǎo)發(fā)射測(cè)量 - 磁探針?lè)?/p>
NF EN 61967-6/A1:2008集成電路 - 電磁輻射測(cè)量，150 kHz 至 1 GHz - 第 6 部分：傳導(dǎo)發(fā)射測(cè)量 - 磁探針?lè)?/p>
AT-ON，關(guān)于探針 法的標(biāo)準(zhǔn)
ONORM M 6266-1984水質(zhì)．溶解氧的測(cè)定．電化學(xué)探針?lè)?
國(guó)家質(zhì)檢總局，關(guān)于探針 法的標(biāo)準(zhǔn)
GB/T 6617-1995硅片電阻率測(cè)定擴(kuò)展電阻探針?lè)?/p>
GB/T 6617-2009硅片電阻率測(cè)定 擴(kuò)展電阻探針?lè)?/p>
GB/T 1552-1995硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直排四探針?lè)?/p>
GB/T 1551-1995硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流兩探針?lè)?/p>
GB/T 14141-2009硅外延層、擴(kuò)散層和離子注入層薄層電阻的測(cè)定.直排四探針?lè)?/p>
國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)化組織，關(guān)于探針 法的標(biāo)準(zhǔn)
ISO 5814:1984水質(zhì).溶解氧的測(cè)定.電化學(xué)探針?lè)?/p>
丹麥標(biāo)準(zhǔn)化協(xié)會(huì)，關(guān)于探針 法的標(biāo)準(zhǔn)
DS/EN ISO 5814:2013水質(zhì)溶解氧的測(cè)定電化學(xué)探針?lè)?/p>
DS/EN 61967-6:2003集成電路 電磁發(fā)射的測(cè)量，150 kHz 1 GHz 第6部分：傳導(dǎo)發(fā)射的測(cè)量 磁探針?lè)?/p>
DS/EN 61967-6/A1:2008集成電路 電磁發(fā)射的測(cè)量，150 kHz 至 1 GHz 第6部分：傳導(dǎo)發(fā)射的測(cè)量 磁探針?lè)?/p>
VN-TCVN，關(guān)于探針 法的標(biāo)準(zhǔn)
TCVN 7325-2016水質(zhì)溶解氧的測(cè)定電化學(xué)探針?lè)?/p>
韓國(guó)科技標(biāo)準(zhǔn)局，關(guān)于探針 法的標(biāo)準(zhǔn)
KS I ISO 5814:2017水質(zhì)溶解氧的測(cè)定電化學(xué)探針?lè)?/p>
KS D 0260-1999四點(diǎn)探針?lè)y(cè)試單晶硅片電阻率的方法
KS L 1619-2013電傳導(dǎo)陶器薄膜電阻率測(cè)定方法.4點(diǎn)探針?lè)?/p>
KS L 1619-2003電傳導(dǎo)陶器薄膜電阻率測(cè)定方法.4點(diǎn)探針?lè)?/p>
KS C 0256-2002硅單結(jié)晶及硅片的4探針?lè)ǖ牡挚孤蕼y(cè)定方法
KS I ISO 10573-2005(2020)土壤質(zhì)量非飽和帶含水量的測(cè)定（中子深度探針?lè)ǎ?/p>
KS I ISO 10359-1-2006(2011)水質(zhì)氟化物的測(cè)定第1部分:飲用水和輕度污染水的電化學(xué)探針?lè)?/p>
KS C IEC TS 62607-6-1:2022納米制造.關(guān)鍵控制特性.第6-1部分:石墨烯基材料.體積電阻率:四探針?lè)?/p>
KR-KS，關(guān)于探針 法的標(biāo)準(zhǔn)
KS I ISO 5814-2017水質(zhì)溶解氧的測(cè)定電化學(xué)探針?lè)?/p>
KS I ISO 5814-2023水質(zhì)溶解氧的測(cè)定電化學(xué)探針?lè)?/p>
KS C IEC TS 62607-6-1-2022納米制造.關(guān)鍵控制特性.第6-1部分:石墨烯基材料.體積電阻率:四探針?lè)?/p>
德國(guó)標(biāo)準(zhǔn)化學(xué)會(huì)，關(guān)于探針 法的標(biāo)準(zhǔn)
DIN EN ISO 5814:2013-02水質(zhì)溶解氧的測(cè)定電化學(xué)探針?lè)?/p>
DIN EN 61967-6 Berichtigung 1:2011-02集成電路 電磁發(fā)射測(cè)量 150kHz 至 1 GHz 第6部分：傳導(dǎo)發(fā)射測(cè)量 磁探針?lè)?/p>
DIN EN 61967-6:2008-10集成電路 - 電磁輻射測(cè)量，150 kHz 至 1 GHz - 第 6 部分：傳導(dǎo)發(fā)射測(cè)量 - 磁探針?lè)?(IEC 61967-6:2002 + A1:2008)
行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-有色金屬，關(guān)于探針 法的標(biāo)準(zhǔn)
YS/T 602-2007區(qū)熔鍺錠電阻率測(cè)試方法 兩探針?lè)?/p>
YS/T 602-2017區(qū)熔鍺錠電阻率測(cè)試方法 兩探針?lè)?/p>
RU-GOST R，關(guān)于探針 法的標(biāo)準(zhǔn)
GOST 24392-1980單晶硅和鍺.四探針?lè)y(cè)定電阻系數(shù)
中國(guó)團(tuán)體標(biāo)準(zhǔn)，關(guān)于探針 法的標(biāo)準(zhǔn)
T/CSTM 00252-2020碳纖維體積電阻率試驗(yàn)方法四探針?lè)?/p>
T/CASAS 019-2021微納米金屬燒結(jié)體電阻率測(cè)試方法 四探針?lè)?/p>
T/ZGIA 001-2019石墨烯測(cè)試方法 粉體電導(dǎo)率的測(cè)定 四探針?lè)?/p>
T/GDBK 007-2023焙烤食品中丙烯醛的快速測(cè)定 酶標(biāo)儀法（熒光探針?lè)ǎ?/p>
日本工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)調(diào)查會(huì)，關(guān)于探針 法的標(biāo)準(zhǔn)
JIS H 0612:1975硅單晶片電阻率的測(cè)定方法.四探針?lè)?/p>
JIS H 0602:1995用四點(diǎn)探針?lè)▽?duì)硅晶體和硅片電阻率的測(cè)試方法
行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-機(jī)械，關(guān)于探針 法的標(biāo)準(zhǔn)
JB/T 12074-2014復(fù)合金屬材料成分的測(cè)定電子探針?lè)?/p>
吉林省地方標(biāo)準(zhǔn)，關(guān)于探針 法的標(biāo)準(zhǔn)
DB22/T 3089-2019羊傳染性膿皰病毒檢測(cè) 熒光PCR探針?lè)?/p>
河北省標(biāo)準(zhǔn)，關(guān)于探針 法的標(biāo)準(zhǔn)
DB13/T 5255-2020石墨烯導(dǎo)電油墨方阻的測(cè)定 四探針?lè)?/p>
DB13/T 5026.3-2019石墨烯導(dǎo)電漿料物理性質(zhì)的測(cè)定方法 第3部分：漿料極片電阻率的測(cè)定 四探針?lè)?/p>
江蘇省標(biāo)準(zhǔn)，關(guān)于探針 法的標(biāo)準(zhǔn)
DB32/T 4027-2021石墨烯粉體電導(dǎo)率測(cè)定 動(dòng)態(tài)四探針?lè)?/p>
DB32/T 4378-2022襯底表面納米、亞微米尺度薄膜 方塊電阻的無(wú)損測(cè)試 四探針?lè)?/p>
立陶宛標(biāo)準(zhǔn)局，關(guān)于探針 法的標(biāo)準(zhǔn)
LST EN ISO 5814:2012水質(zhì)-溶解氧的測(cè)定-電化學(xué)探針?lè)ǎ↖SO 5814:2012）
LST ISO 10359-1:1998水質(zhì) 氟化物的測(cè)定 第1部分：飲用水和輕度污染水的電化學(xué)探針?lè)?/p>
LST EN 61967-6-2003/A1-2008集成電路 電磁輻射測(cè)量，150 kHz 至 1 GHz 第6部分：傳導(dǎo)輻射測(cè)量 磁探針?lè)ǎ↖EC 61967-6:2002/A1:2008）
AENOR，關(guān)于探針 法的標(biāo)準(zhǔn)
UNE-EN ISO 5814:2013水質(zhì)-溶解氧的測(cè)定-電化學(xué)探針?lè)ǎ↖SO 5814:2012）
UNE 77044-1:2002水質(zhì) 氟化物的測(cè)定 第1部分：飲用水和輕度污染水的電化學(xué)探針?lè)?/p>
地方標(biāo)準(zhǔn)，關(guān)于探針 法的標(biāo)準(zhǔn)
CNS 12846-1991氦質(zhì)譜儀示蹤氣探針探漏法
海關(guān)總署，關(guān)于探針 法的標(biāo)準(zhǔn)
SN/T 5315-2021光催化自潔陶瓷性能測(cè)試方法 熒光探針?lè)?/p>
國(guó)家*用標(biāo)準(zhǔn)-總裝備部，關(guān)于探針 法的標(biāo)準(zhǔn)
GJB 5309.22-2004火工品試驗(yàn)方法 第22部分：爆炸同步性測(cè)定 探針?lè)?/p>
美國(guó)材料與試驗(yàn)協(xié)會(huì)，關(guān)于探針 法的標(biāo)準(zhǔn)
ASTM D5334-00(2004)用熱針探針?lè)y(cè)定土壤和巖石導(dǎo)熱性的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
ASTM D5334-22用熱針探針?lè)y(cè)定土壤和巖石熱導(dǎo)率的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
ASTM D5334-22a用熱針探針?lè)y(cè)定土壤和巖石導(dǎo)熱性的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
ASTM D5334-22ae1用熱針探針?lè)y(cè)定土壤和巖石熱導(dǎo)率的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
ASTM F390-98(2003)用共線四探針?lè)▽?duì)金屬薄膜的薄膜耐力的試驗(yàn)方法
ASTM F390-11用共線四探針?lè)y(cè)定金屬薄膜的薄膜電阻的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
ASTM E499/E499M-11在檢測(cè)器探針?lè)ㄖ杏觅|(zhì)譜儀檢漏器作泄漏檢驗(yàn)的標(biāo)準(zhǔn)操作規(guī)程
ASTM D5220-02用中子深探針?lè)▽?duì)應(yīng)有位置的土壤和巖石的含水量的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
ASTM D5220-92(1997)用中子深探針?lè)▽?duì)應(yīng)有位置的土壤和巖石的含水量的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
ASTM D5220-08用中子深探針?lè)▽?duì)地表土壤和巖石中單位體積含水量的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
ASTM E498-95(2006)在示蹤探針?lè)ㄖ杏觅|(zhì)譜儀檢漏器或殘余氣體分析器作泄漏檢驗(yàn)的測(cè)試方法
ASTM F1711-96(2016)采用四點(diǎn)探針?lè)y(cè)量平板顯示器制造用薄膜導(dǎo)體的薄層電阻的標(biāo)準(zhǔn)實(shí)施規(guī)程
ASTM E498/E498M-11在示蹤探針?lè)ㄖ杏觅|(zhì)譜儀檢漏器或殘余氣體分析器作泄漏檢驗(yàn)的標(biāo)準(zhǔn)操作規(guī)程
英國(guó)標(biāo)準(zhǔn)學(xué)會(huì)，關(guān)于探針 法的標(biāo)準(zhǔn)
PD IEC TS 62607-6-1:2020納米制造 關(guān)鍵控制特性 石墨烯基材料 體積電阻率：四探針?lè)?/p>
BS 6068-2.41:1993水質(zhì) 物理、化學(xué)和生化方法 飲用水和輕污染水氟化物的測(cè)定電化學(xué)探針?lè)?/p>
美國(guó)機(jī)動(dòng)車工程師協(xié)會(huì)，關(guān)于探針 法的標(biāo)準(zhǔn)
SAE J1752-2-2003集成電路的輻射發(fā)射測(cè)量表面掃描法（環(huán)路探針?lè)ǎ?0 MHz 至 3 GHz
SAE J1752/2-1995集成電路的輻射發(fā)射測(cè)量 表面掃描法（環(huán)路探針?lè)ǎ?0 Mhz 至 3 Ghz
SAE J1752/2-2011集成電路輻射發(fā)射的測(cè)量 表面掃描法（環(huán)路探針?lè)ǎ?0 MHz 至 3 GHz
SAE J1752/2-2016集成電路輻射發(fā)射的測(cè)量 表面掃描法（環(huán)路探針?lè)ǎ?0 MHz 至 3 GHz
SAE J1752/2-2003集成電路輻射發(fā)射的測(cè)量 表面掃描法（環(huán)路探針?lè)ǎ?0 MHz 至 3 GHz
SAE - SAE International，關(guān)于探針 法的標(biāo)準(zhǔn)
SAE J1752-2-2016集成電路的輻射發(fā)射測(cè)量 表面掃描法（環(huán)路探針?lè)ǎ?0 MHz 至 3 GHz
ES-UNE，關(guān)于探針 法的標(biāo)準(zhǔn)
UNE-EN 61967-6:2002集成電路 電磁輻射測(cè)量 150kHz 至 1 GHz 第6部分：傳導(dǎo)發(fā)射測(cè)量 磁探針?lè)?/p>
UNE-EN 61967-6:2002/A1:2008集成電路 電磁輻射測(cè)量 150kHz 至 1 GHz 第6部分：傳導(dǎo)發(fā)射測(cè)量 磁探針?lè)?/p>
云南省地方標(biāo)準(zhǔn)，關(guān)于探針 法的標(biāo)準(zhǔn)
DB53/T 443-2012火災(zāi)技術(shù)鑒定方法 電子探針?lè)治龇?/p>
國(guó)際電工委員會(huì)，關(guān)于探針 法的標(biāo)準(zhǔn)
IEC 61967-6:2002/AMD1:2008集成電路.150kHz至1GHz電磁發(fā)射的測(cè)量.第6部分:傳導(dǎo)發(fā)射的測(cè)量.磁探針?lè)?/p>
IEC 61967-6:2008集成電路.150kHz至1GHz電磁發(fā)射的測(cè)量.第6部分:傳導(dǎo)發(fā)射的測(cè)量.磁探針?lè)?/p>
IEC 61967-6:2002+AMD1:2008 CSV集成電路.150kHz至1GHz電磁發(fā)射的測(cè)量.第6部分:傳導(dǎo)發(fā)射的測(cè)量.磁探針?lè)?/p>
IEC TS 62607-6-1:2020納米制造關(guān)鍵控制特性第6-1部分:石墨烯基材料體積電阻率:四探針?lè)?/p>
ZA-SANS，關(guān)于探針 法的標(biāo)準(zhǔn)
SANS 10359-1:2002水質(zhì)．氟化物含量測(cè)定．第1部分：飲用水和輕度污染水用電化學(xué)探針?lè)?/p>
湖北省地方標(biāo)準(zhǔn)，關(guān)于探針 法的標(biāo)準(zhǔn)
DB42/T 1864.2-2022家禽疫病診斷技術(shù)規(guī)程 第2部分：禽大腸桿菌致病群雙重探針?lè)z測(cè)
檢測(cè)流程步驟
溫馨提示：以上內(nèi)容僅供參考使用，更多檢測(cè)需求請(qǐng)咨詢客服。
