接觸電阻檢測(cè)檢驗(yàn)認(rèn)證測(cè)試

報(bào)告類型：【接觸電阻檢測(cè)檢驗(yàn)認(rèn)證測(cè)試】電子報(bào)告、紙質(zhì)報(bào)告(中文報(bào)告、英文報(bào)告、中英文報(bào)告)

報(bào)告資質(zhì)： CMA；CNAS

檢測(cè)周期： 3-10個(gè)工作日（特殊樣品除外）

服務(wù)地區(qū)：全國(guó)，實(shí)驗(yàn)室就近分配

檢測(cè)用途：電商平臺(tái)入駐；商超賣場(chǎng)入駐；產(chǎn)品質(zhì)量改進(jìn)；產(chǎn)品認(rèn)證；出口通關(guān)檢驗(yàn)等

樣品要求：樣品支持快遞取送/上門采樣，數(shù)量及規(guī)格等視檢測(cè)項(xiàng)而定

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檢測(cè)報(bào)告圖片

接觸電阻檢測(cè)CMA報(bào)告成分分析檢測(cè)中心可以為您提供材料成分分析、指標(biāo)檢測(cè)、性能測(cè)試等服務(wù)。檢測(cè)報(bào)告可以提高消費(fèi)者對(duì)您產(chǎn)品的信賴。

接觸電阻等。

繼電器、觸頭、電纜、探針、端子、銅排、導(dǎo)線、排線、鑄鐵、隔刀、零線等。

JJG1129-2016鐵路輪對(duì)接觸電阻檢測(cè)儀檢定規(guī)程

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GB/T40007-2021納米技術(shù)納米材料電阻率的接觸式測(cè)量方法通則

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T/IAWBS013-2019半絕緣碳化硅單晶片電阻率非接觸測(cè)量方法

T/IAWBS011-2019導(dǎo)電碳化硅單晶片電阻率測(cè)量方法—非接觸渦流法

GB/T15078-2008貴金屬電觸點(diǎn)材料接觸電阻的測(cè)量方法

SJ/T11487-2015半絕緣半導(dǎo)體晶片電阻率的無(wú)接觸測(cè)量方法

GJB360.33-1987電子及電氣元件試驗(yàn)方法接觸電阻測(cè)試

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SH/T0596-1994潤(rùn)滑脂接觸電阻測(cè)定法

JB/T6954-1993灰鑄鐵接觸電阻加熱淬火質(zhì)量檢驗(yàn)和評(píng)級(jí)

JB/T6954-2007灰鑄鐵接觸電阻加熱淬火質(zhì)量檢驗(yàn)和評(píng)級(jí)

一般接觸電阻檢測(cè)檢驗(yàn)認(rèn)證測(cè)試報(bào)告上會(huì)標(biāo)注實(shí)驗(yàn)室收到樣品的時(shí)間、出具報(bào)告的時(shí)間，不會(huì)標(biāo)注有效期。

需要根據(jù)檢測(cè)項(xiàng)目、樣品數(shù)量及檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)而定，請(qǐng)聯(lián)系我們確定后報(bào)價(jià)。

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