二次衍射,電子衍射檢測(cè)報(bào)告如何辦理？檢測(cè)項(xiàng)目及標(biāo)準(zhǔn)有哪些？百檢第三方檢測(cè)機(jī)構(gòu)，嚴(yán)格按照二次衍射,電子衍射檢測(cè)相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行測(cè)試和評(píng)估。做檢測(cè)，找百檢。我們只做真實(shí)檢測(cè)。
涉及二次衍射,電子衍射的標(biāo)準(zhǔn)有33條。
國際標(biāo)準(zhǔn)分類中，二次衍射,電子衍射涉及到分析化學(xué)、金屬材料試驗(yàn)、光學(xué)設(shè)備、光學(xué)和光學(xué)測(cè)量、消防、長度和角度測(cè)量。
在中國標(biāo)準(zhǔn)分類中，二次衍射,電子衍射涉及到基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法、電化學(xué)、熱化學(xué)、光學(xué)式分析儀器、金相檢驗(yàn)方法、放大鏡與顯微鏡、電子光學(xué)與其他物理光學(xué)儀器、消防綜合、物理學(xué)與力學(xué)。
國家市場監(jiān)督管理總局、中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)，關(guān)于二次衍射,電子衍射的標(biāo)準(zhǔn)
GB/T 41076-2021微束分析 電子背散射衍射 鋼中奧氏體的定量分析
GB/T 20724-2021微束分析 薄晶體厚度的會(huì)聚束電子衍射測(cè)定方法
GB/T 36165-2018金屬平均晶粒度的測(cè)定 電子背散射衍射（EBSD）法
未注明發(fā)布機(jī)構(gòu)，關(guān)于二次衍射,電子衍射的標(biāo)準(zhǔn)
GB/T 38532-2020微束分析 電子背散射衍射 平均晶粒尺寸的測(cè)定
國家質(zhì)檢總局，關(guān)于二次衍射,電子衍射的標(biāo)準(zhǔn)
GB/T 36165-2018金屬平均晶粒度的測(cè)定電子背散射衍射(EBSD)法
GB/T 30703-2014微束分析 電子背散射衍射取向分析方法導(dǎo)則
GB/T 19501-2013微束分析 電子背散射衍射分析方法通則
GB/T 18907-2013微束分析 分析電子顯微術(shù) 透射電鏡選區(qū)電子衍射分析方法
GB/T 20724-2006薄晶體厚度的會(huì)聚束電子衍射測(cè)定方法
GB/T 19501-2004電子背散射衍射分析方法通則
GB/T 18907-2002透射電子顯微鏡選區(qū)電子衍射分析方法
中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局、中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)，關(guān)于二次衍射,電子衍射的標(biāo)準(zhǔn)
GB/T 34172-2017微束分析 電子背散射衍射 金屬及合金的相分析方法
上海市市場監(jiān)督管理局，關(guān)于二次衍射,電子衍射的標(biāo)準(zhǔn)
DB31/T 1156-2019電氣火災(zāi)熔痕技術(shù)鑒定 電子背散射衍射法
工業(yè)和信息化部，關(guān)于二次衍射,電子衍射的標(biāo)準(zhǔn)
YB/T 4677-2018鋼中織構(gòu)的測(cè)定電子背散射衍射（EBSD）法
英國標(biāo)準(zhǔn)學(xué)會(huì)，關(guān)于二次衍射,電子衍射的標(biāo)準(zhǔn)
BS ISO 25498-2018微光束分析.解析電子顯微測(cè)定法.透射式電子顯微鏡對(duì)選定區(qū)域進(jìn)行電子衍射分析
BS ISO 13067-2011微光束分析.背散射電子衍射.平均顆粒粒度測(cè)量
BS ISO 13067-2011微光束分析.背散射電子衍射.平均顆粒粒度測(cè)量
BS ISO 25498-2010微光束分析.解析電子顯微測(cè)定法.透射式電子顯微鏡對(duì)選定區(qū)域進(jìn)行電子衍射分析
BS ISO 25498-2010微光束分析.解析電子顯微測(cè)定法.透射式電子顯微鏡對(duì)選定區(qū)域進(jìn)行電子衍射分析
BS ISO 24173-2009微束分析.使用電子反向散射體衍射的方位測(cè)量準(zhǔn)則
BS ISO 24173-2009微束分析.使用電子反向散射體衍射的方位測(cè)量準(zhǔn)則
，關(guān)于二次衍射,電子衍射的標(biāo)準(zhǔn)
GOST R ISO 13067-2016確保測(cè)量一致性的國家系統(tǒng). 微束分析. 電子背散射衍射. 平均粒度的測(cè)量
GOST R ISO 13067-2016確保測(cè)量一致性的國家系統(tǒng). 微束分析. 電子背散射衍射. 平均粒度的測(cè)量
GOST R 8.696-2010確保測(cè)量一致性的國家體系.晶體中的平面間距和衍射圖中的亮度分布.利用電子衍射計(jì)方法的測(cè)量
德國標(biāo)準(zhǔn)化學(xué)會(huì)，關(guān)于二次衍射,電子衍射的標(biāo)準(zhǔn)
DIN ISO 13067-2015微光束分析.電子反向散射衍射.平均粒度測(cè)量(ISO 13067-2011)
DIN ISO 24173-2013微光束分析.使用電子背散射衍射進(jìn)行定向測(cè)量的指南(ISO 24713-2009)
美國材料與試驗(yàn)協(xié)會(huì)，關(guān)于二次衍射,電子衍射的標(biāo)準(zhǔn)
ASTM E2627-2013使用完全再結(jié)晶多晶材料中的電子背散射衍射 (EBSD) 測(cè)定平均粒徑的標(biāo)準(zhǔn)實(shí)施規(guī)程
ASTM E2627-2010在完全再結(jié)晶的多晶體物質(zhì)中使用電子背向反射衍射(EBSD)測(cè)定平均粒度的標(biāo)準(zhǔn)實(shí)施規(guī)程
法國標(biāo)準(zhǔn)化協(xié)會(huì)，關(guān)于二次衍射,電子衍射的標(biāo)準(zhǔn)
NF X21-014-2012微束分析.電子背散射衍射.平均粒度的測(cè)量
國際標(biāo)準(zhǔn)化組織，關(guān)于二次衍射,電子衍射的標(biāo)準(zhǔn)
ISO 13067-2011微光束分析.電子反向散射衍射.平均粒度測(cè)量
ISO 25498-2010微光束分析.解析電子顯微測(cè)定法.透射式電子顯微鏡對(duì)選定區(qū)域進(jìn)行電子衍射分析
ISO 24173-2009微光束分析.用電子背散射衍射進(jìn)行定向測(cè)量的指南
(美國)海*，關(guān)于二次衍射,電子衍射的標(biāo)準(zhǔn)
NAVY UFGS-01 33 29-2010低能電子衍射(TM)文件
檢測(cè)流程步驟
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